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超伝導量子干渉型磁束計 (Magnetic Property Measurement System)
- 設備ID
- UE-001
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Quantum Design (Quantum Design)
- 型番
- MPMS-XL7
- 仕様・特徴
- 磁化測定（磁化率の磁場依存性、温度依存性の測定）
・測定温度範囲：1.8 K～ 400 K
・印加磁場：0～7 T
・光照射サンプルホルダーオプション
・オーブンオプション (温度上限800 K)
- 設備状況
- 稼働中
高磁場多目的物性測定システム (Physical Property Measurement System)
- 設備ID
- UE-002
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Quantum Design (Quantum Design)
- 型番
- PPMS
- 仕様・特徴
- 比熱測定、磁化測定、電気抵抗測定、その他
・温度範囲：1.9 K～ 400 K
・印加磁場：0～ 9 T
・磁場均一性：0.1 x 10-4(9 T over 5.5 cm)
- 設備状況
- 稼働中
溶液NMR装置 (Liquid-State NMR spectrometer)
- 設備ID
- UE-003
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL Resonance)
- 型番
- ECA－500
- 仕様・特徴
- NMR測定（化合物の分子構造の決定）
・1H共鳴周波数：500 MHz
・多核NMR測定核種：15N～31P
・オートサンプルチェンジャ(24本)利用可能
- 設備状況
- 稼働中
DSC粉末X線同時測定装置 (Powder X-ray diffractometer)
- 設備ID
- UE-004
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- Ultima III
- 仕様・特徴
- 粉末X線回折測定、示差走査熱量(DSC)とXRDの同時測定
・Cu封入管線源 集中法/平行法切替ユニット
・DSC測定温度範囲：-40℃〜350℃
- 設備状況
- 稼働中
HPC型単結晶X線回折装置 (Single crystal X-ray diffractometer)
- 設備ID
- UE-005
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLab Synergy-R/DW/RF
- 仕様・特徴
- 単結晶試料のX線結晶構造解析
・Cu & Moデュアルターゲット高輝度回転対陰極型X線発生装置
・試料位置でのX線光束：約130 µm
・窒素ガス吹付型試料冷却装置
- 設備状況
- 稼働中
顕微レーザーラマン分光計 (Raman spectrometer)
- 設備ID
- UE-006
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO Corporation)
- 型番
- NRS-3100
- 仕様・特徴
- 固体試料表面の元素・化学状態分析
・空間分解能:1 µm
・532 nmレーザーと785 nmレーザーを搭載
・レーザー出力：100 mW (532 nm)
・マッピング測定(例：50 µm x 50 µm)可能
- 設備状況
- 稼働中
Ｘ線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
- 設備ID
- UE-007
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 固体試料の元素・化学状態分析
・標準X線源 (Al-Mgツインターゲット)
・最大負荷 Mg 500W，Al 600W
・単色化Al Kα線(Ag 3d5/2 半値幅: 0.65 eV)
・アルゴンイオンエッチング、紫外光分光分析(UPS)可能
- 設備状況
- 稼働中
電子スピン共鳴装置 (Electron spin resonance spectrometer)
- 設備ID
- UE-008
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker (Bruker)
- 型番
- ELEXSYS
- 仕様・特徴
- フリーラジカルの同定・定量
・分光器：約9 GHzの定常波
・変調周波数：1 MHzまで
・温度範囲：4.2 K～ 300 K
- 設備状況
- 稼働中
共焦点蛍光顕微鏡システム (Confocal Laser Scanning Fluorescence Microscope)
- 設備ID
- UE-009
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Carl Zweiss (Carl Zweiss)
- 型番
- LSM710
- 仕様・特徴
- 生体試料などの顕微鏡観察
・励起用レーザーライン：405 nm、458 nm、488 nm、514 nm、561 nm、633 nm
・蛍光像の同時観察：最大34チャネルの異なる波長域の蛍光像を同時に取得可能
- 設備状況
- 稼働中
電子線元素状態分析装置 (Electron Probe Micro Analyzer)
- 設備ID
- UE-011
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 固体試料表面の元素分析
・分析元素範囲 WDS: B～U、EDS: B～U
・二次電子分解能 3 nm (WD=11 mm、30 kV)
・分析条件最小プローブ径：40 nm (10 kV、1x1x10-8 A)
・走査倍率：x 40～ x 300,000 (WD=11 mm)
- 設備状況
- 稼働中