ゼータ電位計
最終更新日：2022年4月9日
| 設備ID | NM-013 |
|---|---|
| 分類 | 膜厚・粒度測定 > ゼータ電位 |
| 設備名称 | ゼータ電位計 (Zeta potential analyzer) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS千現地区 材料信頼性実験棟 |
| メーカー名 | 大塚電子 (Otsuka Electronics) |
| 型番 | ELSZ-1000Z |
| キーワード | ゼータ電位測定 ナノ粒子 エマルション ミセル |
| 仕様・特徴 | ・ゼータ電位測定範囲：-200～200mV ・光学系：レーザードップラー法 ・光源：高出力・高安定化半導体レーザー ・セル：標準セル、微量ディスポセルもしくは平板用セル ・検出器：高感度APD ・温度：10 ～ 90℃ |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-013 |
