触針式プロファイラー(段差計)
最終更新日:2024年10月1日
設備ID | HK-708 |
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分類 | 膜厚・粒度測定 > 膜厚測定 |
設備名称 | 触針式プロファイラー(段差計) (Alpha-Step D-500) |
設置機関 | 北海道大学 |
設置場所 | 工学部L棟 |
メーカー名 | KLA-Tencor (KLA-Tencor) |
型番 | D-500 |
キーワード | 段差測定 段差計 |
仕様・特徴 | サンプルステージ直径 140mm 段差測定再現性1σ 0.5nm以内 測定範囲Z:1200µm X:30mm 分解能Z:0.038nm 針圧範囲 0.03 ~15mg |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=HK-708 |