微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC）
最終更新日：2024年6月26日
| 設備ID | NM-228 |
|---|---|
| 分類 |
状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > X線蛍光分光分析 表面分析（深さ方向元素分析を含む） > その他 |
| 設備名称 | 微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC） (Micro Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer（Micro-EDXRF)) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | 千現地区 ファインプロセス実験棟 313号室 |
| メーカー名 | アメテック株式会社 (AMETEK, Inc.) |
| 型番 | ORBIS PC |
| キーワード | 1.金属・セラミックスなど各種試料の非破壊分析 2.微小部分析の定性・定量分析 3.前処理が不要 4.凹凸のあるサンプルでも測定可能(最大7 mm) 5.フィルタ(7種)使用で微量分析が可能 |
| 仕様・特徴 | 1.X線源：マイクロフォーカス型Rh管球 2.X線出力：電圧～50 kV、電流～1 mA 3.X線集光部：30 μm径ポリキャピラリー 4.X線検出器：液体窒素レス型SSD検出器 5.測定可能元素種：Na～U3. 大型試料(最大サイズ：270 × 270 × 100 mm 6.デュアルCCD(10倍、75倍、3倍ズーム) |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-228 |
