薄膜X線回折装置_Cu
最終更新日：2024年6月7日
| 設備ID | NM-216 |
|---|---|
| 分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
| 設備名称 | 薄膜X線回折装置_Cu (TF-XRD_Cu) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS並木地区 MANA棟 401室 |
| メーカー名 | リガク (Rigaku) |
| 型番 | SmartLab |
| キーワード | 微細構造の分析 |
| 仕様・特徴 | ・薄膜測定 ・小角散乱測定 ・X線反射率 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-216 |
