原子間力顕微鏡
| 設備ID | NU-264 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 装置名称 | 原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope) |
| 設置機関 | 名古屋大学 |
| 設置場所 | 先端技術共同研究施設 |
| メーカー名 | パーク・システムズ (Park Systems) |
| 型番 | NX20 |
| キーワード | 表面形状分析 磁区構造分析 静電気力分析 電流マッピング 粘弾性マッピング |
| 仕様・特徴 | ・スキャン領域：XY方向100µm，Z方向15µm ・試料サイズ：最大200mmφ－20mmt ・測定モード AFM，MFM，EFM，LFM，FMM，C-AFM，ナノリソグラフィ |
