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大面積走査プローブ顕微鏡Dimension ICON

設備ID UT-863
分類 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡
装置名称 大面積走査プローブ顕微鏡Dimension ICON  (Large-Area Scanning Probe Microscope Dimension ICON)
設置機関 東京大学
設置場所 武田先端知クリーンルーム2
メーカー名 ブルカージャパン (Bruker Japan)
型番 Dimension ICON
キーワード AFM
仕様・特徴 ステージ径φ210mm、駆動範囲150×180mm
スキャナ、光学顕微鏡範囲:90×90×10μm
測定モード:形状(コンタクト、タッピング、ピークフォースタッピング)機械特性等プローブ測定が可能(UT-861 L-TraceIIの後継機。近日中に完全置換予定)
    大面積走査プローブ顕微鏡Dimension ICON
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