大面積走査プローブ顕微鏡Dimension ICON
最終更新日：2024年4月4日
| 設備ID | UT-863 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 設備名称 | 大面積走査プローブ顕微鏡Dimension ICON (Large-Area Scanning Probe Microscope Dimension ICON) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 武田先端知クリーンルーム2 |
| メーカー名 | ブルカージャパン (Bruker Japan) |
| 型番 | Dimension ICON |
| キーワード | AFM |
| 仕様・特徴 | ステージ径φ210mm、駆動範囲150×180mm スキャナ、光学顕微鏡範囲：90×90×10μm 測定モード：形状（コンタクト、タッピング、ピークフォースタッピング）機械特性等プローブ測定が可能（UT-861 L-TraceIIの後継機。近日中に完全置換予定） |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-863 |
