多機能電界放出型透過電子顕微鏡
最終更新日：2024年4月4日
| 設備ID | UT-012 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 多機能電界放出型透過電子顕微鏡 (Multipurpose Analytical field emission transmission electron microscope,) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-F200 |
| キーワード | 分析電子顕微鏡 高分解能電子顕微鏡 電子線回折像 元素分析 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 STEM TEM EDS EELS |
| 仕様・特徴 | □ 主な特長 最新のオペレーティングシステムを採用。電子顕微鏡、CMOSカメラ、EDS、EELSを1つのシステムで操作が可能。 □ 主な仕様 ・分解能：走査透過像 0.16nm,透過像(粒子像) 0.23nm ・倍率：走査透過像×100～×150,000,000 TEM像×500～×20,000,000 ・ 電子銃：冷陰極電界放出形電子銃搭載 加速電圧 200kV･80kV ・ 試料系：試料傾斜 X軸±27゜Y軸±30゜ ・ 分析：高感度のSDD検出器2本同時搭載、EELS検出器を装備 ・ 非暴露冷却ホルダー対応 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-012 |
