共用設備検索

汎用電子顕微鏡

設備ID	KU-019
分類	透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡表面分析（深さ方向元素分析を含む） > その他回折・散乱 > 電子回折
装置名称	汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)
設置機関	九州大学
設置場所	九州大学超顕微解析研究センターCE21棟
メーカー名	日本電子 (JEOL)
型番	JEM-2100F
キーワード	ナノ材料、構造解析、組成分析、状態分析
仕様・特徴	組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機