単結晶X線解析
最終更新日：2024年3月27日
| 設備ID | MS-235 |
|---|---|
| 分類 | 回折・散乱 > 単結晶X線回折 |
| 設備名称 | 単結晶X線解析 (Single Crystal X-ray Diffractometer) |
| 設置機関 | 自然科学研究機構 分子科学研究所 |
| 設置場所 | 分子研 明大寺地区 |
| メーカー名 | リガク (Rigaku) |
| 型番 | XtaLAB Synergy-R/DW |
| キーワード | 錯体、金属、無機、有機化合物、タンパク質等幅広い材料を対象とする。結晶構造解析、電子状態、単結晶X線回析 |
| 仕様・特徴 | 極低温（100K～）からの測定が可能。高輝度Ｘ線源（PhotonJet-R/DW：出力1.2kW）と高速読み出しHPC検出器（HyPix-6000）の組み合わせで、超高速・超高精度測定が可能。 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=MS-235 |
