クライオイオンスライサ―
| 設備ID | KT-409 |
|---|---|
| 分類 |
微小加工装置 > イオンミリング（TEM試料作製） 微小加工装置 > イオンミリング（断面加工） |
| 装置名称 | クライオイオンスライサ― (CRYO ION SLICER) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 超高分解能分光型電子顕微鏡棟6号室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | IB-09060CIS |
| キーワード | 対象試料：無機物・有機物 用途：TEM試料作製 イオンミリング（TEM試料作製）/ Ion milling (TEM sample preparation) |
| 仕様・特徴 | 1.アルゴンビーム薄片化装置（電圧1～8kV） 2.試料傾斜角最大±6度 3.クライオステージ（-120℃） |
