共用設備検索

クライオイオンスライサ―

最終更新日:2024年4月2日
設備ID KT-409
分類 微小加工装置 > イオンミリング(TEM試料作製)
微小加工装置 > イオンミリング(断面加工)
設備名称 クライオイオンスライサ― (CRYO ION SLICER)
設置機関 京都大学
設置場所 超高分解能分光型電子顕微鏡棟6号室
メーカー名 日本電子 (JEOL)
型番 IB-09060CIS
キーワード 対象試料:無機物・有機物
用途:TEM試料作製
イオンミリング(TEM試料作製)/ Ion milling (TEM sample preparation)
仕様・特徴 1.アルゴンビーム薄片化装置(電圧1~8kV)
2.試料傾斜角最大±6度
3.クライオステージ(-120℃)
設備状況 稼働中
本設備の利用事例 https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=KT-409
    クライオイオンスライサ―
    クライオイオンスライサ―
印刷する
PAGE TOP
スマートフォン用ページで見る