クライオイオンスライサ―
最終更新日:2024年4月2日
設備ID | KT-409 |
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分類 |
微小加工装置 > イオンミリング(TEM試料作製) 微小加工装置 > イオンミリング(断面加工) |
設備名称 | クライオイオンスライサ― (CRYO ION SLICER) |
設置機関 | 京都大学 |
設置場所 | 超高分解能分光型電子顕微鏡棟6号室 |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | IB-09060CIS |
キーワード | 対象試料:無機物・有機物 用途:TEM試料作製 イオンミリング(TEM試料作製)/ Ion milling (TEM sample preparation) |
仕様・特徴 | 1.アルゴンビーム薄片化装置(電圧1~8kV) 2.試料傾斜角最大±6度 3.クライオステージ(-120℃) |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=KT-409 |