段差計
最終更新日：2023年9月7日
| 設備ID | NU-261 |
|---|---|
| 分類 | 膜厚・粒度測定 > 段差計 |
| 設備名称 | 段差計 (Surface profiler) |
| 設置機関 | 名古屋大学 |
| 設置場所 | ベンチャービジネスラボラトリ |
| メーカー名 | 小坂研究所 (Kosaka Laboratory) |
| 型番 | ET200A |
| キーワード | 段差計 |
| 仕様・特徴 | ・最大サンプルサイズ：φ160×厚さ52mm ・再現性 ：1σ 0.3nm以内 ・測定範囲 ：Z：600µm，X：100mm ・分解能 ：Z：0.1nm，X：0.1µm ・測定力：10µN～500µN |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NU-261 |
