高分子相構造解析システム
最終更新日：2024年3月25日
| 設備ID | YG-011 |
|---|---|
| 分類 |
回折・散乱 > その他 光学顕微鏡 > 実体顕微鏡 |
| 設備名称 | 高分子相構造解析システム (Polymer Phase Structure Analyzing system) |
| 設置機関 | 山形大学 |
| 設置場所 | 山形大学工学部GMAPセンター |
| メーカー名 | 大塚電子 エビデント ライカ (Otsuka Electronics Evident Leica) |
| 型番 | PP-1000 BX53LED-33P-OC-D Multicut R |
| キーワード | 小角光散乱 SALS 球晶 偏光観察 結晶化 その場観察 可視光 システム顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | 1. 小角散乱装置 小角光散乱により短時間でサブミクロン～数百ミクロンの高分子やフィルムの構造を評価できる。加熱冷却ステージ付で温度による構造変化をリアルタイム測定可能。 システムで総合的に評価。 ・ポリマーブレンドの相分離過程 ・ポリマーの結晶化過程 2.偏光観察用システム顕微鏡 無限遠補正UIS2光学系と偏光特性を考慮した光学系により偏光観察、レタデーション測定が可能。高解像度、高コントラストの画像提供 3. ミクロトーム 2段階のトリミング機能(50、10ミクロン)による素早い面出しと正確な試料送り機構による、正確な厚みの切片を作成可能。タングステンブレード、ダイヤモンドナイフを用いる。 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=YG-011 |
