走査電子顕微鏡（SEM）
最終更新日：2023年6月14日
| 設備ID | RO-527 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 走査電子顕微鏡（SEM） (Field emission scanning electron microscope) |
| 設置機関 | 広島大学 |
| 設置場所 | CR西棟１F |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JSM-IT800 |
| キーワード | |
| 仕様・特徴 | ショットキｰ電界放出型電子銃，10V～30kV、 最高分解能0.5nm， |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=RO-527 |
