走査型プローブ顕微鏡 [Nanoscope5]
| 設備ID | NM-652 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査型プローブ顕微鏡 [Nanoscope5] (SPM [Nanoscope5]) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS並木地区 MANA棟 513号室 |
| メーカー名 | ブルカージャパン株式会社 (Bruker Japan K.K.) |
| 型番 | Nanoscope5 |
| キーワード | コンタクトAFM、タッピングAFM、磁気力顕微鏡、電気化学STM、液相 AFM、走査型プローブ顕微鏡/ Scanning probe microscopy |
| 仕様・特徴 | ・測定モード： Contact AFM , Tapping AFM , MFM, Liquid-phase AFM ・走査範囲：17μ または 1.3μ |
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