200kV透過電子顕微鏡
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最終更新日：2024年8月29日
| 設備ID | NM-408 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 設備名称 | 200kV透過電子顕微鏡 (200kV transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS並木地区 WPI-MANA棟 W-102号室 |
| メーカー名 | 日本エフイー・アイ (FEI) |
| 型番 | Talos F200X G2 |
| キーワード | 結晶構造解析 組成分布観察 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧80、200kV ・TEM粒子分解能0.25nm ・HAADF-STEM分解能0.16nm ・大面積EDS（SuperX） ・3次元トモグラフィー ・CMOSカメラ ・分割型検出器 |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-408 |
