微細形状測定機(段差計)
最終更新日:2023年6月14日
設備ID | HK-630 |
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分類 | 膜厚・粒度測定 > 段差計 |
設備名称 | 微細形状測定機(段差計) (Microfigure Measuring Instrument) |
設置機関 | 北海道大学 |
設置場所 | 創成科学研究棟クリーンルーム |
メーカー名 | 株式会社 小坂研究所 (Kosaka Laboratory Ltd.) |
型番 | ET200A |
キーワード | 段差計 |
仕様・特徴 | 最大サンプルサイズΦ160×厚さ52mm 再現性1σ 0.3nm以内 測定範囲Z:600μm X:100mm 分解能Z:0.1nm X:0.1μm 測定力10μN~500μN |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=HK-630 |