透過電子顕微鏡
最終更新日:2023年1月5日
設備ID | TU-520 |
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分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
設備名称 | 透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope) |
設置機関 | 東北大学 |
設置場所 | 東北大学片平キャンパス金属材料研究所 |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | JEM-2100Plus |
キーワード | TEM, STEM EDS |
仕様・特徴 | ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃) ・EDSマッピング |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=TU-520 |