半導体パラメータアナライザ
最終更新日：2022年5月27日
| 設備ID | TU-327 |
|---|---|
| 分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
| 設備名称 | 半導体パラメータアナライザ (Semiconductor parameter analyzer) |
| 設置機関 | 東北大学 |
| 設置場所 | 東北大学西澤潤一記念研究センター 3F実験室 |
| メーカー名 | Keysight (Keysight) |
| 型番 | B1500A SMU B1511B x4 GNDU |
| キーワード | 半導体デバイスの特性評価 |
| 仕様・特徴 | 各種半導体集積回路特性評価 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=TU-327 |
