軟X線光電子分光装置
最終更新日：2024年4月15日
| 設備ID | AE-007 |
|---|---|
| 分類 | 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > X線光電子分光 （XPS（硬X線を含む）） |
| 設備名称 | 軟X線光電子分光装置 (Soft X-ray photoelectron spectrometer) |
| 設置機関 | 日本原子力研究開発機構（JAEA） |
| 設置場所 | |
| メーカー名 | カスタム（電子分析アナライザー: VG Scienta） (Home-made (Electron Analyzer: VG Scienta)) |
| 型番 | 電子分析アナライザー: SES-2002 |
| キーワード | 電子状態、バンド構造、フェルミ面 |
| 仕様・特徴 | 角度分解光電子分光（ARPES）測定も可能な光電子分光装置。希土類及び3d遷移金属化合物の詳細な電子構造を調べることができる。 ・光エネルギー：400-1500 eV ・エネルギー分解能：50-200 meV ・試料温度：6-300 K |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=AE-007 |
