走査透過電子顕微鏡（STEM）
最終更新日：2024年4月9日
| 設備ID | NR-204 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 走査透過電子顕微鏡（STEM） (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM)) |
| 設置機関 | 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST) |
| 設置場所 | 奈良先端科学技術大学院大学物質棟 |
| メーカー名 | 日立ハイテク (Hitachi High-Tech) |
| 型番 | HD-2700 |
| キーワード | ナノ材料観察 薄膜断面観察 結晶構造解析 走査型透過電子顕微鏡/Scanning transmission electron microscopy |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV ・球面収差補正装置搭載 ・分解能: 136 pm ・EDX検出器搭載 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NR-204 |
