200kV透過電子顕微鏡
最終更新日：2024年4月9日
| 設備ID | NR-203 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM)) |
| 設置機関 | 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST) |
| 設置場所 | 奈良先端科学技術大学院大学物質棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2200FS |
| キーワード | 結晶構造解析 ナノ材料 微粒子/ Fine particles 透過型電子顕微鏡/ Transmission electron microscopy ウルトラミクロトーム（TEM試料作製）/ Ultramicrotome (TEM sample preparation) |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧： 200kV ・倍率： 1,200～600,000倍（分解能：0.31nm） ・オプション： 動画観察システム |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NR-203 |
