コヒーレントX線回折イメージング装置
最終更新日:2024年4月9日
設備ID | QS-221 |
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分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
設備名称 | コヒーレントX線回折イメージング装置 (Diffractometer for coherent X-ray diffraction imaging) |
設置機関 | 量子科学技術研究開発機構(QST) |
設置場所 | SPring-8 BL22XU |
メーカー名 | HUBER社(ドイツ)ほか (Huber Diffraktionstechnik GmbH & Co. KG, etc.) |
型番 | なし(特別仕様) |
キーワード | 放射光、結晶性粒子の3次元イメージング、誘電体、セラミクス、磁性体、金属試料、量子効果、表面・界面・粒界制御、セラミクスデバイス、ナノ粒子、歪み分布、ドメイン構造、相転移、その場計測、オペランド計測 |
仕様・特徴 | ・微小結晶粒(粒径:数十nm~数μm)を対象に、形状だけでなく、電子顕微鏡では観察が困難な内部構造(歪分布や欠陥、空洞、ドメイン等)を非破壊・非接触で3次元可視化できる装置。 ・硬X線領域のブラッグ反射を用いたコヒーレントX線回折イメージング法を利用する。 ・各種ナノ材料の評価をサポート。 ・試料温度は室温~1100℃の範囲で設定可能。その他の試料環境制御は要相談。 |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=QS-221 |