コヒーレントX線回折イメージング装置
| 設備ID | QS-221 |
|---|---|
| 分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
| 装置名称 | コヒーレントX線回折イメージング装置 (Diffractometer for coherent X-ray diffraction imaging) |
| 設置機関 | 量子科学技術研究開発機構（QST） |
| 設置場所 | SPring-8 BL22XU |
| メーカー名 | HUBER社（ドイツ）ほか (Huber Diffraktionstechnik GmbH & Co. KG, etc.) |
| 型番 | なし（特別仕様） |
| キーワード | 放射光、結晶性粒子の３次元イメージング、誘電体、セラミクス、磁性体、金属試料、量子効果、表面・界面・粒界制御、セラミクスデバイス、ナノ粒子、歪み分布、ドメイン構造、相転移、その場計測、オペランド計測 |
| 仕様・特徴 | ・微小結晶粒（粒径：数十nm～数μm）を対象に、形状だけでなく、電子顕微鏡では観察が困難な内部構造（歪分布や欠陥、空洞、ドメイン等）を非破壊・非接触で３次元可視化できる装置。 ・硬X線領域のブラッグ反射を用いたコヒーレントX線回折イメージング法を利用する。 ・各種ナノ材料の評価をサポート。 ・試料温度は室温～1100℃の範囲で設定可能。その他の試料環境制御は要相談。 |
