共鳴非弾性X線散乱装置
最終更新日：2024年4月1日
| 設備ID | QS-112 |
|---|---|
| 分類 |
状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > X線蛍光分光分析 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > エックス線吸収端構造解析 （nearedgeを含む） 回折・散乱 > その他 |
| 設備名称 | 共鳴非弾性X線散乱装置 (Resonant inelastic X-ray scattering spectrometer) |
| 設置機関 | 量子科学技術研究開発機構（QST） |
| 設置場所 | SPring-8 BL11XU |
| メーカー名 | 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.) |
| 型番 | なし（特別仕様） |
| キーワード | 放射光、超伝導材料・物質・素子、量子マテリアル、スピントロニクス素子・物質、発電関連材料、水素エネルギー関連材料、蓄電関連材料、触媒材料、遷移金属系合金、銅基合金、貴金属系合金、金属間化合物、電荷・スピン・軌道励起、オペランド電子状態解析 |
| 仕様・特徴 | ・入射Ｘ線、散乱（発光）Ｘ線の双方のエネルギーを0.1 eV程度のエネルギー分解能でＸ線分光実験が可能な装置。 ・通常のXAFSよりも高エネルギー分解能のXAFS（HERFD-XAFS）やＸ線発光分光（XES）により触媒等の詳細な電子状態のその場観察実験が可能。 ・ガス雰囲気や電位をかけた状態などでのオペランド計測も実施。 ・４軸回折計配置で共鳴非弾性Ｘ線散乱（RIXS）により強相関電子系物質等の電子励起の運動量依存性が測定できる。 ・試料温度は10 Kから800 Kまで。 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=QS-112 |
