共用設備検索結果
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NMR (NMR)
- 設備ID
- NM-001
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ECS-400
- 仕様・特徴
- ・共鳴周波数：400MHz
・プローブ：多核種対応（1H, 13C, 15N～31P, 19F, 39K, 109Ag）
・温調：あり
・溶液サンプル専用
- 設備状況
- 稼働中
LC-MS（Q-Exactive Plus） (LC-MS（Q-Exactive Plus）)
- 設備ID
- NM-002
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Q-Exactive Plus
- 仕様・特徴
- ・イオン化方式：ESI
・質量検出方式：Orbitrap
・測定質量範囲：50～6,000 m/z
・オートサンプラー：あり
・タンパク同定ソフト：MASCOT
- 設備状況
- 稼働中
ラマン顕微鏡 (Raman microscope)
- 設備ID
- NM-003
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- レニショー (Renishaw)
- 型番
- inVia Reflex
- 仕様・特徴
- ・ラインレーザー照射による高速ラマンイメージング。
・繋ぎ目のない連続した広い波数範囲のスペクトル測定。
・共焦点機構による高い空間分解能。
・レーザー波長：532nm及び785nm
・波数分解能：0.3cm-1
・空間分解能：水平0.25µm、垂直1µm
・対物レンズ：5倍、20倍、50倍、63倍(水浸)、100倍
・温度制御：-196～600℃
- 設備状況
- 稼働中
共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡 (Confocal laser scanning fluorescence microscope)
- 設備ID
- NM-004
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- ライカマイクロシステムズ (Leica Microsystems)
- 型番
- SP5
- 仕様・特徴
- ・対物レンズ：10倍、20倍、40倍、63倍
・高速モード撮影時：秒/250コマ撮影
・高解像モード撮影時：8000×8000撮影が可能
・励起光源：405nm、458nm、476nm、488nm、514nm, 543nm、633nm
- 設備状況
- 稼働中
液中原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope (AFM) in liquid)
- 設備ID
- NM-005
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- NanoWizard 4 XP
- 仕様・特徴
- 【AFM測定】
・液中観察：可
・走査範囲：水平100µm、垂直15µm
・動作モード：コンタクトモード、タッピングモード、フォースカーブマッピングモード、粘弾性測定、MFM観察
【直上顕微鏡】
・観察倍率：10倍
【倒立顕微鏡】
・観察法：明視野、位相差、蛍光
・対物レンズ：10倍、40倍
【その他】
・温度制御：室温＋60℃まで
- 設備状況
- 稼働中
卓上走査型電子顕微鏡装置群 (Tabletop scanning electron microscope (SEM))
- 設備ID
- NM-006
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- Miniscope TM4000PlusII Miniscope TM3000
- 仕様・特徴
- 【TM4000PlusII】
・倍率：10倍~10万倍
・加速電圧 : 5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
・画像信号 : 反射電子, 二次電子
・真空モード：導電体（反射電子のみ）、標準、帯電軽減
・EDX：あり
【TM3000】
・倍率：15倍～3万倍
・加速電圧 : 5 kV、15 kV
・画像信号 : 反射電子のみ
・観察モード：通常、帯電軽減
・EDX：あり
- 設備状況
- 稼働中
表面プラズモン共鳴装置 (Surface plasmon resonance (SPR) instrument)
- 設備ID
- NM-007
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サイティバ (Cytiva)
- 型番
- Biacore X100
- 仕様・特徴
- ・非標識で分子間相互作用解析が可能。
・ベースラインノイズ：<0.1 RU (RMS)
・フローセル容量：0.06 µL
・データ取得間隔：1 Hz
・測定温度：25℃（固定）
・オートサンプラー：最大15サンプル
- 設備状況
- 稼働中
プレートリーダー (Plate reader)
- 設備ID
- NM-008
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- パーキンエルマー (PerkinElmer)
- 型番
- EnSight
- 仕様・特徴
- ・モノクロメーターによる任意波長の測定が可能。
・多様な測定モード（吸光/蛍光/発光/時間分解蛍光）。
・温度調節機能やプレート撹拌機能を搭載。
・光源：UVキセノンフラッシュランプ
・検出器(吸光)：フォトダイオード(230-1000nm)
・検出器(蛍光)：光電子増倍管(230-850nm)
・波長選択：モノクロメーター
・プレートフォーマット：6ウェル、12ウェル、24ウェル、48ウェル、96ウェル、384ウェル
- 設備状況
- 稼働中
分光光度計 (Spectrophotometer)
- 設備ID
- NM-009
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- U-2900
- 仕様・特徴
- ・光学系：ダブルビーム
・波長範囲：190～1100nm
・スペクトルバンド幅：1.5nm
- 設備状況
- 稼働中
分光蛍光光度計 (Fluorescence spectrophotometer)
- 設備ID
- NM-010
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- F-7000
- 仕様・特徴
- ・感度：水のラマン光S/N800以上(RMS)、S/N250以上(Peak to peak)
・光源：150W Xeランプ
・測定波長範囲：200～750nm
・波長走査速度：30～60,000nm/min
- 設備状況
- 稼働中