走査プローブ顕微鏡
| 設備ID | MS-204 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査プローブ顕微鏡 (Scanning probe microscope) |
| 設置機関 | 自然科学研究機構 分子科学研究所 |
| 設置場所 | 分子研 明大寺地区 |
| メーカー名 | Bruker (Bruker) |
| 型番 | Dimension XR Icon NanoE Dimension XR Icon NanoEC |
| キーワード | |
| 仕様・特徴 | 形状測定、機械特性測定、電気特性測定、電気化学 大気非暴露ボックス、環境制御ユニット(-35℃～250℃、湿度5%～50％） |
