電界放出形走査電子顕微鏡
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最終更新日:2024年8月29日
設備ID | MS-201 |
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分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
設備名称 | 電界放出形走査電子顕微鏡 (Field emission scanning electron microscope) |
設置機関 | 自然科学研究機構 分子科学研究所 |
設置場所 | 分子研 山手地区 |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | JSM-6700F |
キーワード | |
仕様・特徴 | -現在利用停止中- 試料2インチまで |
設備状況 | 共用を終了した設備です |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=MS-201 |