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エリプソメータ
設備ID
HK-706
分類
膜厚・粒度測定 > エリプソメーター
装置名称
エリプソメータ (Ellipsometry)
設置機関
北海道大学
設置場所
工学部L棟
メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
M-500S
キーワード
分光エリプソ
仕様・特徴
Xe光源, 測定波長:350~800nm, 試料水平置き
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