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エリプソメータ

設備ID HK-706
分類 膜厚・粒度測定 > エリプソメーター
装置名称 エリプソメータ (Ellipsometry)
設置機関 北海道大学
設置場所 工学部L棟
メーカー名 日本分光 (JASCO)
型番 M-500S
キーワード 分光エリプソ
仕様・特徴 Xe光源, 測定波長:350~800nm, 試料水平置き
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