収差補正走査型透過電子顕微鏡
設備ID | HK-401 |
---|---|
分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
装置名称 | 収差補正走査型透過電子顕微鏡 (Cs-corrected scanning transmission electron microscope) |
設置機関 | 北海道大学 |
設置場所 | 創成科学研究棟01-302 |
メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
型番 | JEM-ARM200F |
キーワード | 高分解能観察 結晶構造解析 組成分布観察 電子エネルギー損失分光(EELS) エネルギー分散型X線分光(EDS) 大気非暴露 |
仕様・特徴 | 加速電圧:80kV,200kV ColdFEG EDS,EELS 大気非暴露・冷却試料ホルダー 遠隔観察 |