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収差補正走査型透過電子顕微鏡

設備ID HK-401
分類 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡
回折・散乱 > 電子回折
装置名称 収差補正走査型透過電子顕微鏡 (Cs-corrected scanning transmission electron microscope)
設置機関 北海道大学
設置場所 創成科学研究棟01-302
メーカー名 日本電子 (JEOL)
型番 JEM-ARM200F
キーワード 高分解能観察
結晶構造解析
組成分布観察
電子エネルギー損失分光(EELS)
エネルギー分散型X線分光(EDS)
大気非暴露
仕様・特徴 加速電圧:80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察
    収差補正走査型透過電子顕微鏡
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