ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡
最終更新日:2025年1月6日
設備ID | HK-101 |
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分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 透過電子顕微鏡 > 三次元電子顕微鏡 |
設備名称 | ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 (Double Cs-corrected scanning transmission electron microscope) |
設置機関 | 北海道大学 |
設置場所 | 工学部 新世代先端材料研究実験棟 |
メーカー名 | 日本FEI (FEI) |
型番 | Titan3 G2 60-300 |
キーワード | 高分解能観察 結晶構造解析 組成分布観察 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 |
仕様・特徴 | ・加速電圧:60kV-300kV ・TEM分解能:0.07nm、STEM分解能:0.07nm ・X-FEG電子銃 ・モノクロメーター搭載 ・照射系球面収差補正器 ・結像系球面収差補正器 ・Super-X EDS検出器 ・Gatan GIF QuantumER分光器 ・分析試料ホルダー、トモグラフィー試料ホルダー ・遠隔観察 ・遠隔オペレーション |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=HK-101 |