半導体パラメータアナライザ
設備ID | KT-329 |
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分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
装置名称 | 半導体パラメータアナライザ (Semiconductor Parameter Analyzer) |
設置機関 | 京都大学 |
設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
メーカー名 | ケースレーインスツルメンツ(株) (Keithley Instruments, Inc.) |
型番 | 4200-SCS |
キーワード | |
仕様・特徴 | 最大200V印加、電流上限:2W/印加 電流最小分解能:0.1fA |