薄膜X線回折装置
設備ID | NU-203 |
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分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
装置名称 | 薄膜X線回折装置 (X-ray diffraction) |
設置機関 | 名古屋大学 |
設置場所 | 先端技術共同研究施設 |
メーカー名 | RIGAKU (RIGAKU) |
型番 | ATX-G |
キーワード | X線回折 X線反射率 |
仕様・特徴 | ・線源:Cu Kα線 18kW ・多層膜ミラー,Geモノクロメーター付き ・測定モード:θ-2θスキャン,ロッキングカーブ,逆格子面マッピング,膜面内φスキャン,φ-2θχスキャンなど |