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原子間力顕微鏡

    原子間力顕微鏡
    原子間力顕微鏡
機器ID NU-008
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 原子間力顕微鏡
装置名称 原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscope (AFM))
設置機関 名古屋大学
設置場所 名古屋大学東山キャンパス
メーカー名 Veeco Instruments社 (Veeco Instruments)
型番 AFM Nanoscope IIIa
キーワード 表面形状観察
表面特性評価
仕様・特徴 ・MMAFM型マルチモードSPMユニット・サンプルサイズ:15mmφ×6mm厚(最大)・観察環境:大気中(標準機能)
・水平分解能:1nm(タッピング・モードAFM)
・スキャンサイズ:(水平軸走査範囲)0.4μm×0.4μm(AS-0.5)&10μm×10μm(AS-12), (垂直軸走査範囲)0.4μm(AS-0.5)&2.5μm(AS-12)
機関代表メールアドレス material-sentan=nanobio.nagoya-u.ac.jp ([=]を[@]にしてください)
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