原子間力顕微鏡
| 機器ID | NU-008 |
|---|---|
| 分類 | 走査型プローブ顕微鏡 > 原子間力顕微鏡 |
| 装置名称 | 原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscope (AFM)) |
| 設置機関 | 名古屋大学 |
| 設置場所 | 名古屋大学東山キャンパス |
| メーカー名 | Veeco Instruments社 (Veeco Instruments) |
| 型番 | AFM Nanoscope IIIa |
| キーワード | 表面形状観察 表面特性評価 |
| 仕様・特徴 | ・MMAFM型マルチモードSPMユニット・サンプルサイズ：15mmφ×6mm厚（最大）・観察環境：大気中（標準機能） ・水平分解能：1nm（タッピング・モードAFM） ・スキャンサイズ：（水平軸走査範囲）0.4μm×0.4μm（AS-0.5）&10μm×10μm（AS-12）, （垂直軸走査範囲）0.4μm（AS-0.5）&2.5μm（AS-12） |
| 機関代表メールアドレス | material-sentan=nanobio.nagoya-u.ac.jp ([=]を[@]にしてください) |