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小型原子間力顕微鏡

設備ID UT-859
分類 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡
装置名称 小型原子間力顕微鏡  (Atomin Force Microscope (AFM))
設置機関 東京大学
設置場所 工学部2号館電子顕微鏡室
メーカー名 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
型番 SPA400+SPI4000
キーワード AFM、原子間力顕微鏡
仕様・特徴 日立ハイテクサイエンス(旧SII社製)AFM。試料サイズ:φ35mm厚み10mm、スキャナー走査範囲:150μm×150μm(高さ5μm)、20μm×20μm(高さ1.5μm)、AFMモード、DFMモード
    小型原子間力顕微鏡
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