ゼータ電位＆粒径測定装置（ELSZ-2000ZS）
最終更新日：2024年6月7日
| 設備ID | NM-218 |
|---|---|
| 分類 |
膜厚・粒度測定 > ゼータ電位 膜厚・粒度測定 > 粒度分布測定（動的光散乱） |
| 設備名称 | ゼータ電位＆粒径測定装置（ELSZ-2000ZS） (Zeta-potential/Particle-size analyzer (ELSZ-2000ZS)) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS並木地区 MANA棟 403室 |
| メーカー名 | 大塚電子 (Otsuka Electronics) |
| 型番 | ELSZ-2000ZS |
| キーワード | ゼータ電位測定 ナノ粒子 エマルション ミセル |
| 仕様・特徴 | ・粒径： 0.6 nm ～ 8 µm ・ゼータ電位： -200 ～ +200 mV ・試料濃度：0.00001～40％ ・測定温度：0～90 ℃ (ガラスセル)、10～50 ℃ (ディスポセル) |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-218 |
