走査型プローブ顕微鏡 [L-trace]
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最終更新日：2025年3月3日
| 設備ID | NM-651 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 設備名称 | 走査型プローブ顕微鏡 [L-trace] (SPM [L-trace]) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS並木地区 MANA棟 513号室 |
| メーカー名 | 株式会社日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science Corporation) |
| 型番 | L-trace |
| キーワード | コンタクトAFM、タッピングAFM、摩擦力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡/ Scanning probe microscopy |
| 仕様・特徴 | ・測定モード：コンタクトAFM、タッピングAFM、摩擦力顕微鏡 ・走査範囲：水平100 x 100 um ・最大試料サイズ： 6インチφ ・付加機能：I-V測定及びマッピング |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-651 |
![走査型プローブ顕微鏡 [L-trace]](data/facility_item/1687417014_11.jpg)