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半導体パラメータアナライザ
設備ID
TU-327
分類
デバイス特性 > 電気特性評価
装置名称
半導体パラメータアナライザ (Semiconductor parameter analyzer)
設置機関
東北大学
設置場所
東北大学西澤潤一記念研究センター 3F実験室
メーカー名
Keysight (Keysight)
型番
B1500A SMU B1511B x4 GNDU
キーワード
半導体デバイスの特性評価
仕様・特徴
各種半導体集積回路特性評価
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