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300kV透過電子顕微鏡

    300kV透過電子顕微鏡
    300kV透過電子顕微鏡
機器ID NR-202
分類 電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡
装置名称 300kV透過電子顕微鏡 (300kV Transmission Electron Microscope (TEM))
設置機関 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設置場所 奈良先端科学技術大学院大学物質棟
メーカー名 日本電子 (JEOL)
型番 JEM-3100FEF
キーワード 結晶構造解析
ナノ材料
仕様・特徴 ・加速電圧: 300kV
・倍率: 100~2,000,000倍(分解能:0.19nm)
・オプション:
クライオシステム
高温観察システム
動画観察システム
トモグラフィ,三次元再構成システム
電子エネルギー損失分光
機関代表メールアドレス naist-arim=ms.naist.jp ([=]を[@]にしてください)
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