共鳴非弾性X線散乱装置
設備ID | QS-112 |
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分類 |
回折・散乱 > その他 状態分析(各種分光法(元素分析・振動モード・電子状態)を含む) > X線蛍光分光分析 状態分析(各種分光法(元素分析・振動モード・電子状態)を含む) > エックス線吸収端構造解析 (nearedgeを含む) |
装置名称 | 共鳴非弾性X線散乱装置 (Resonant inelastic X-ray scattering spectrometer) |
設置機関 | 量子科学技術研究開発機構(QST) |
設置場所 | SPring-8 BL11XU |
メーカー名 | 神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.) |
型番 | なし(特別仕様) |
キーワード | 放射光、遷移金属化合物、電荷・スピン・軌道励起、触媒、電池電極材料、オペランド電子状態解析、量子効果、超伝導、二次電池、燃料電池、強相関電子系 |
仕様・特徴 | ・入射X線、散乱(発光)X線の双方のエネルギーを0.1 eV程度のエネルギー分解能でX線分光実験が可能な装置。 ・通常のXAFSよりも高エネルギー分解能のXAFS(HERFD-XAFS)やX線発光分光(XES)により触媒等の詳細な電子状態のその場観察実験が可能。 ・4軸回折計配置で共鳴非弾性X線散乱(RIXS)により強相関電子系物質等の電子励起の運動量依存性が測定できる。 ・試料温度は10 Kから800 Kまで。 |