共用設備検索結果
集束イオンビーム加工・観察装置 (Focused Ion Beam and Scanning Electron Microscope system(FIB-SEM))
- 設備ID
- HK-304
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JIB-4600F/HKD
- 仕様・特徴
- 加速電圧：1～30kV
分析機能：EDS、EBSD、3D観察
像分解能：5nm（30kV）
収差補正走査型透過電子顕微鏡 (Cs-corrected scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-401
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-402
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能：EDS、EELS
集束イオンビーム加工装置 (Focused Ion Beam system)
- 設備ID
- HK-403
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- FB-2100
- 仕様・特徴
- イオン加速電圧：5 ～ 30 kV
サイドエントリーステージ
バルクステージ
マイクロサンプリング機能
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 (High resolution Field-emission scanning electron microscope)
- 設備ID
- HK-404
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus8230
- 仕様・特徴
- 加速電圧：0.5～30kV
分析機能：EDS
STEM機能
試料サイズ：6インチまで
遠隔画面共有
時間分解収差補正光電子顕微鏡システム (Time-resolved photoelectron emission microscope)
- 設備ID
- HK-405
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- エルミテック (Elmitec)
- 型番
- AC-PEEMIII
- 仕様・特徴
- 空間分解能：4nm以下
時間分解能：10fs以下
LEEM機能
X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- HK-406
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:3μmφ～3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
精密イオン研磨装置 ( Precision ion polishing system)
- 設備ID
- HK-407
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- ガタン (Gatan)
- 型番
- PIPSII
- 仕様・特徴
- イオン加速電圧：1 ～ 6 kV
イオン入射角：最大±10°
液体窒素冷却装置
TVカメラ
大気中紫外光電子分光装置 (Photoemission Yield Spectroscopy in Air)
- 設備ID
- HK-408
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 理研計器 (Riken Keiki)
- 型番
- AC-3
- 仕様・特徴
- 測定エネルギー：4.0eV-7.0eV
顕微紫外可視近赤外分光装置 (UV/Vis/NIR Microscopic Spectrophotometer)
- 設備ID
- HK-409
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- MSV-5200
- 仕様・特徴
- 反射、透過測定
光電子増倍管、冷却型PbS光導電素子
測定波長域：200nm-2700nm
カセグレン対物32倍
自動XYZステージ