共用設備検索結果
電界放出形走査電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM))
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:1kV~30kV
分析機能:EDS, EBSD
電界放出形電子プローブマイクロアナライザー (Field emission electron probe micro analyzer (FE-EPMA))
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:1~30kV
分析機能:WDS
集束イオンビーム加工・観察装置 (Focused Ion Beam and Scanning Electron Microscope system(FIB-SEM))
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JIB-4600F/HKD
- 仕様・特徴
- 加速電圧:1~30kV
分析機能:EDS、EBSD、3D観察
像分解能:5nm(30kV)
収差補正走査型透過電子顕微鏡 (Cs-corrected scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧:200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能:EDS、EELS
集束イオンビーム加工装置 (Focused Ion Beam system)
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- FB-2100
- 仕様・特徴
- イオン加速電圧:5 ~ 30 kV
サイドエントリーステージ
バルクステージ
マイクロサンプリング機能
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 (High resolution Field-emission scanning electron microscope)
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus8230
- 仕様・特徴
- 加速電圧:0.5~30kV
分析機能:EDS
STEM機能
試料サイズ:6インチまで
遠隔画面共有
時間分解収差補正光電子顕微鏡システム (Time-resolved photoelectron emission microscope)
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- エルミテック (Elmitec)
- 型番
- AC-PEEMIII
- 仕様・特徴
- 空間分解能:4nm以下
時間分解能:10fs以下
LEEM機能
X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:3μmφ~3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
精密イオン研磨装置 ( Precision ion polishing system)
- 設備ID
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像

- メーカー名
- ガタン (Gatan)
- 型番
- PIPSII
- 仕様・特徴
- イオン加速電圧:1 ~ 6 kV
イオン入射角:最大±10°
液体窒素冷却装置
TVカメラ