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電子状態測定システム (X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- KU-501
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 ( Shimazu )
- 型番
- AXIS-ULTRA
- 仕様・特徴
- ・測定範囲10～1500 eVを25meV以下のステップ、
・分析面積15μmφ～
・Mg/AlデュアルX線源、出力～450W
・イオンポンプ、真空到達度10-10 Pa
・Arエッチング可能、
・予備室内での加熱処理対応、
・大面積試料バーで複数試料の同時マウントが可能
・元素マッピング可能
- 設備状況
- 稼働中
表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)
- 設備ID
- KU-503
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments )
- 型番
- Spectra-Physics
- 仕様・特徴
- ・検出器：STREAK SCOPE C4334（浜松ホトニクス）/検出器：光電子増倍管（浜松ホトニクス）ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社) 励起パルス幅：1.5 ps、励起波長：400 nm付近、偏光オプション付き,測定範囲：1500～4000 cm-1
- 設備状況
- 稼働中
レーザラマン分光光度計装置 (Laser Raman Microscope system)
- 設備ID
- KU-504
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- ナノフォトン (Nanophoton)
- 型番
- RAMANtouch
- 仕様・特徴
- 【高速レーザーラマン顕微鏡：RAMANtouch】
・倒立顕微鏡ベースの光学系。InGaAs検出器での近赤外発光同視野測定を実現。
・励起レーザー3本搭載（532nm、633nm、785nm）
・回折限界に迫る350nmの空間分解能
・ラインスキャンによる超高速イメージング
・100 cm-1から測定可能
・z方向１ミクロンの高い空間分解能
・スペクトル分解能（FWHM）＝1.2cm-1 （@785nm、1200gr/mm）
- 設備状況
- 稼働中
紫外可視近赤外分光測定装置装置群 (UV-Vis-NIR spectrometer)
- 設備ID
- KU-505
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所日本分光パーキンエルマー (ShimazuJASCOPerkinElmer)
- 型番
- SolidSpec-3700DUVV-670SpotLight400
- 仕様・特徴
- 【紫外可視近赤外分光測定装置:V-670】
・Abs=7まで測定可能、積分球対応、液体測定温度制御可能、
・固体、液体サンプル測定可能、
・積分球を用いた拡散反射スペクトル測定可能
【UV-Vis-NIR分光光度計：SolidSpec-3700DUV】
・測定波長 165～3300 nm(但し積分球測定は175 nm～2600 nm) 分解能0.1nm、
・大型鏡面反射測定，積分球ﾕﾆｯﾄ（固体測定），
・直接測光ﾕﾆｯﾄ(液体測定）深紫外領域測定対応、InGaAs検出器搭載、
・温度制御セルチェンジャー対応可能（多量サンプル測定可能）、測定温度制御可能
【中赤外・遠赤外吸収測定装置：Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング】
・ラインスキャンによる高速IRイメージング。
・ATRプローブによる顕微ATR測定、遠赤外領域のATR測定対応
・プローブによるポイント反射・透過IR測定も可能。
・測定範囲7800～650 cm-1 、4500～680 cm-1でのATR測定
・赤外顕微鏡 (イメージング機能)、イメージング分解能6.25 μm～
- 設備状況
- 稼働中
液体クロマトグラフィー・分子構造分析装置群 (Liquid chromatography System)
- 設備ID
- KU-506
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所Bruker日本分光大塚電子日本分析工業 ( Shimazu Bruker JASCOOtsuka Electronics Japan Analytical Industry)
- 型番
- NexeraX2micrOTOF-QIIIJ-1500DLS-8000DLLC-908-C60
- 仕様・特徴
- 【超高速HPLC分離・分子構造分析システム】
NexeraX2
・130MPaの高耐圧化した超高速HPLC。PDA検出器装備
micrOTOF-QIII
・ｲｵﾝ化ﾓｰﾄﾞ ESI，APCI 精密質量測定，MS/MS可。
ＣＤ（円二色性検出器）：J-1500
・163～1600nm Wﾌﾟﾘｽﾞﾑﾓﾉｸﾛで迷光0.0003%以下。
・電気化学フローセルに接続した電気化学計測検出器。
DLS8000DL
・静的光散乱 重量平均分子量3×102～2×107。
・動的光散乱による粒径測定1.4nm～7μm，レーザー He/Ne，Ar+
・絶対分子量測定可能な多角度静的光散乱検出器
【分取HPLCシステムLC-908-C60】
・２H、４Hカラム装備
・分取HPLCシステム（グラムオーダーの分取が可能）
・大型のカラム接続によるサンプルの大量分取が可能
・１回のインジェクション量は10 mL
- 設備状況
- 稼働中
近赤外蛍光分光装置群 (Fluorolog-NIR spectrofluorometer)
- 設備ID
- KU-507
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 堀場JOBIN YVON (Horiba JOBIN YVON)
- 型番
- NanoLOG-EXT
- 仕様・特徴
- 【NanoLOG-EXT】
・スペクトル並びに励起光―発光イメージング可能
・測定温度制御可能励起:700-1000nm,
・蛍光:1100-2000 nm
- 設備状況
- 稼働中
核磁気共鳴吸収装置 (NMR)
- 設備ID
- KU-508
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- BRUKER (Bruker)
- 型番
- AVANCE NEO 400
- 仕様・特徴
- 測定核：1H、13C、11B、19F、31P その他
温度範囲： -150℃～+150℃
各種二次元スペクトル、温度可変スペクトルも測定可能
- 設備状況
- 稼働中
MALDI-TOF MS質量分析装置 (Matrix-assisted laser desorption/ionization Time-of-Flight mass spectrometry)
- 設備ID
- KU-509
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- BRUKER (Bruker)
- 型番
- Autoflex max
- 仕様・特徴
- 【Autoflex max】
・ペプチドやタンパク質の同定や、配列解析。
・分子の質量から、有機化合物の同定
・合成高分子の分子量分布や、末端構造などの解析。
・分解能 26,000 FWHM (分子量 3147 m/z において)
・質量範囲 最大500,000まで
・質量精度 2（内部標準）ppm
・レーザー smartbeam II
・レーザー周波数 LRF：2,000Hz(MS)
・TOF/TOF：2,000(MS)200
・リニア、高分解能リフレクトロン、MS/MS 測定が可能
【付帯設備：分離用小型超遠心機CS100GXL 日立工機社製】
・最高回転数100,000ｒｐｍ，加速度604,000xｇ
- 設備状況
- 稼働中
走査型プローブ顕微鏡装置群 (Scanning Probe Microscope)
- 設備ID
- KU-510
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所、エスアイアイ・ナノテクノロジー (Shimazu, Seiko Instruments)
- 型番
- SPM9600, SPI3800N
- 仕様・特徴
- 【SPM9600】
・分解能 水平0.2nm 垂直0.01nm
・測定モード ：コンタクト、ダイナミック、位相
・走査範囲30㎛×30㎛または100㎛×100㎛
【環境制御型多機能走査プローブ顕微鏡：SPI3800N】
・環境：大気中、液中、真空中、ガス雰囲気
・温度制御: 自動加熱・冷却(-120～250℃)
・位相、摩擦、粘弾性、電流、etc.
- 設備状況
- 稼働中
走査電子顕微鏡装置群 (Scanning electron microscope system)
- 設備ID
- KU-511
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズキーエンス (Hitachi High-TechKEYENCE)
- 型番
- SU9000、VE-8800
- 仕様・特徴
- 【超高分解能走査電子顕微鏡装置：SU9000】
・SEM(空間分解能0.4nm)とSTEM(空間分解能0.34nm)の高分解能同視野観察
・30kV以下の低加速観察
・コールドFE電子銃
・EDSによる高解像度元素マッピング
・含水サンプルの凍結観察個体表面における原子の分布を高分解能マッッピング
【3次元SEM画像測定解析システムVE-8800 KEYENCE】
・加速電圧0.5-20kV
・さまざまな有機／無機／複合材料表面構造解析低加速電圧観察可能(0.5 kV)
・非導電性試料でも非蒸着で観察可能
- 設備状況
- 稼働中