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デュアルビーム微細加工電子顕微鏡 (Dual beam FIB-SEM)
- 設備ID
- KU-012
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Versa3D DualBeam
- 仕様・特徴
- 観察+FIB加工、マイクロサンプリング
- 設備状況
- 稼働中
キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機 (Analytical plasma FIB-SEM)
- 設備ID
- KU-013
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Helios 5 Hydra DualBeam
- 仕様・特徴
- イオン源4種(Xe, Ar, O, N)、SIMS分析
- 設備状況
- 稼働中
Arイオン研磨装置群 (Sample milling / polishing facilities)
- 設備ID
- KU-014
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- Gatan、Fischione、日本電子 (Gatan、Fischione、JEOL)
- 型番
- Gatan PIPSⅡ M 695、Fischione NanoMill Model1040、JEOL ION SLICER EM-09100IS
- 仕様・特徴
- 電子顕微鏡試料の調製
- 設備状況
- 稼働中
コーティング装置群 (Coating machine for nonconductive specimens)
- 設備ID
- KU-015
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEOL JFC-1600、JEOL EC-32010CC
- 仕様・特徴
- 電子顕微鏡試料の調製
- 設備状況
- 稼働中
低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM)
- 設備ID
- KU-016
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM300F2
- 仕様・特徴
- 低温域での高分解能電顕観察、照射系・結像系の収差補正、EDS(158mm2 SDD) による高感度組成・状態分析電子線トモグラフィ、その場観察、電圧印加、加熱・冷却・ガス雰囲気、磁区観察、加速電圧:80, 200, 300 kV、電位・化学組成複合解析システム
- 設備状況
- 稼働中
XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)
- 設備ID
- KU-017
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 専用装置(独自開発) ((original))
- 型番
- 専用装置(独自開発)
- 仕様・特徴
- 高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線
- 設備状況
- 稼働中
イオンビーム・電子ビーム複合型精密加工分析装置 (Precise Sample Preparation and Analysis System Combining Ion Beam and Electron Beam)
- 設備ID
- KU-018
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Helios 5 UX
- 仕様・特徴
- FIBによる電顕試料の調製、モノクロメータSEMによる形態観察、EBSDによる方位解析、自動試料作製
- 設備状況
- 稼働中
汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)
- 設備ID
- KU-019
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機
- 設備状況
- 稼働中
雰囲気遮断加熱・冷却試料ホルダー (Atmosphere-shielded heating and cooling specimen holder)
- 設備ID
- KU-020
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- メルビル (Mel-Build)
- 型番
- Elecryo Vacuum Transfer Holder for JEOL 型式:2002-DTELCRTR-JE-23-KU
- 仕様・特徴
- その場観察、加熱・冷却、大気非暴露で電子顕微鏡内に試料を挿入可能
- 設備状況
- 稼働中
クロスセクションポリッシャ (CROSS SECTION POLISHER)
- 設備ID
- KU-021
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- IB-19530CP
- 仕様・特徴
- ブロードArイオンビームによる断面加工・鏡面仕上げ加工(ハイスループット仕様)
低ダメージで大面積加工が可能、SEM観察やEBSD解析に最適
- 設備状況
- 稼働中