共用設備検索結果
三次元走査電子顕微鏡 (3D analyltical FIB-SEM)
- 設備ID
- KU-011
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Scios DualBeam
- 仕様・特徴
- 3次元組織解析
デュアルビーム微細加工電子顕微鏡 (Dual beam FIB-SEM)
- 設備ID
- KU-012
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Versa3D DualBeam
- 仕様・特徴
- 観察+FIB加工、マイクロサンプリング
キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機 (Analytical plasma FIB-SEM)
- 設備ID
- KU-013
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Helios 5 Hydra DualBeam
- 仕様・特徴
- イオン源4種(Xe, Ar, O, N)、SIMS分析
Arイオン研磨装置群 (Sample milling / polishing facilities)
- 設備ID
- KU-014
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- Gatan、Fischione、日本電子 (Gatan、Fischione、JEOL)
- 型番
- Gatan PIPSⅡ M 695、Fischione NanoMill Model1040、JEOL ION SLICER EM-09100IS
- 仕様・特徴
- 電子顕微鏡試料の調製
コーティング装置群 (Coating machine for nonconductive specimens)
- 設備ID
- KU-015
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEOL JFC-1600、JEOL EC-32010CC
- 仕様・特徴
- 電子顕微鏡試料の調製
低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM)
- 設備ID
- KU-016
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM300F2
- 仕様・特徴
- 低温域での高分解能電顕観察
XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)
- 設備ID
- KU-017
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 専用装置(独自開発) ((original))
- 型番
- 専用装置(独自開発)
- 仕様・特徴
- 高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線
電子状態測定システム (X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- KU-501
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 ( Shimazu )
- 型番
- AXIS-ULTRA
- 仕様・特徴
- ・測定範囲10~1500 eVを25meV以下のステップ、
・分析面積15μmφ~
・Mg/AlデュアルX線源、出力~450W
・イオンポンプ、真空到達度10-10 Pa
・Arエッチング可能、
・予備室内での加熱処理対応、
・大面積試料バーで複数試料の同時マウントが可能
・元素マッピング可能
表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)
- 設備ID
- KU-503
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments )
- 型番
- Spectra-Physics
- 仕様・特徴
- ・検出器:STREAK SCOPE C4334(浜松ホトニクス)/検出器:光電子増倍管(浜松ホトニクス)ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社) 励起パルス幅:1.5 ps、励起波長:400 nm付近、偏光オプション付き,測定範囲:1500~4000 cm-1
レーザラマン分光光度計装置群 (Laser Raman Microscope system)
- 設備ID
- KU-504
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- ナノフォトン、カイザーオプティカルシステムズ (Nanophoton, Kaiser Optical Systems)
- 型番
- RAMANtouch、RAMAN RXN Systems
- 仕様・特徴
- 【高速レーザーラマン顕微鏡:RAMANtouch】
・倒立顕微鏡ベースの光学系。InGaAs検出器での近赤外発光同視野測定を実現。
・励起レーザー3本搭載(532nm、633nm、785nm)
・回折限界に迫る350nmの空間分解能
・ラインスキャンによる超高速イメージング
・100 cm-1から測定可能
・z方向1ミクロンの高い空間分解能
・スペクトル分解能(FWHM)=1.2cm-1 (@785nm、1200gr/mm)
【RAMAN RXN Systems】
・HoloPlexTM透過型グレーティング、ノッチフィルター使用F値:1.8
・搭載レーザー 785nm/400mW 検出器 電子冷却CCD検出器
・測定波長範囲 100~3450cm-1 分解 4cm-1