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三次元走査電子顕微鏡 (3D analyltical FIB-SEM)

設備ID
KU-011
設置機関
九州大学
設備画像
三次元走査電子顕微鏡
メーカー名
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
型番
Scios DualBeam
仕様・特徴
3次元組織解析

デュアルビーム微細加工電子顕微鏡 (Dual beam FIB-SEM)

設備ID
KU-012
設置機関
九州大学
設備画像
デュアルビーム微細加工電子顕微鏡
メーカー名
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
型番
Versa3D DualBeam
仕様・特徴
観察+FIB加工、マイクロサンプリング

キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機 (Analytical plasma FIB-SEM)

設備ID
KU-013
設置機関
九州大学
設備画像
キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機
メーカー名
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
型番
Helios 5 Hydra DualBeam
仕様・特徴
イオン源4種(Xe, Ar, O, N)、SIMS分析

Arイオン研磨装置群 (Sample milling / polishing facilities)

設備ID
KU-014
設置機関
九州大学
設備画像
Arイオン研磨装置群
メーカー名
Gatan、Fischione、日本電子 (Gatan、Fischione、JEOL)
型番
Gatan PIPSⅡ M 695、Fischione NanoMill Model1040、JEOL ION SLICER EM-09100IS
仕様・特徴
電子顕微鏡試料の調製

コーティング装置群 (Coating machine for nonconductive specimens)

設備ID
KU-015
設置機関
九州大学
設備画像
コーティング装置群
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEOL JFC-1600、JEOL EC-32010CC
仕様・特徴
電子顕微鏡試料の調製

低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM)

設備ID
KU-016
設置機関
九州大学
設備画像
低温域観測型・高分解能電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM300F2
仕様・特徴
低温域での高分解能電顕観察

XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)

設備ID
KU-017
設置機関
九州大学
設備画像
XAFS/SAXS計測ビームライン
メーカー名
専用装置(独自開発) ((original))
型番
専用装置(独自開発)
仕様・特徴
高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線

電子状態測定システム (X-ray photoelectron spectrometer)

設備ID
KU-501
設置機関
九州大学
設備画像
電子状態測定システム
メーカー名
島津製作所 ( Shimazu )
型番
AXIS-ULTRA
仕様・特徴
・測定範囲10~1500 eVを25meV以下のステップ、
・分析面積15μmφ~
・Mg/AlデュアルX線源、出力~450W
・イオンポンプ、真空到達度10-10 Pa
・Arエッチング可能、
・予備室内での加熱処理対応、
・大面積試料バーで複数試料の同時マウントが可能
・元素マッピング可能

表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)

設備ID
KU-503
設置機関
九州大学
設備画像
表面・界面分子振動解析装置
メーカー名
東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments )
型番
Spectra-Physics
仕様・特徴
・検出器:STREAK SCOPE C4334(浜松ホトニクス)/検出器:光電子増倍管(浜松ホトニクス)ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社) 励起パルス幅:1.5 ps、励起波長:400 nm付近、偏光オプション付き,測定範囲:1500~4000 cm-1

レーザラマン分光光度計装置群 (Laser Raman Microscope system)

設備ID
KU-504
設置機関
九州大学
設備画像
レーザラマン分光光度計装置群
メーカー名
ナノフォトン、カイザーオプティカルシステムズ (Nanophoton, Kaiser Optical Systems)
型番
RAMANtouch、RAMAN RXN Systems
仕様・特徴
【高速レーザーラマン顕微鏡:RAMANtouch】
・倒立顕微鏡ベースの光学系。InGaAs検出器での近赤外発光同視野測定を実現。
・励起レーザー3本搭載(532nm、633nm、785nm)
・回折限界に迫る350nmの空間分解能
・ラインスキャンによる超高速イメージング
・100 cm-1から測定可能
・z方向1ミクロンの高い空間分解能
・スペクトル分解能(FWHM)=1.2cm-1 (@785nm、1200gr/mm)
【RAMAN RXN Systems】
・HoloPlexTM透過型グレーティング、ノッチフィルター使用F値:1.8
・搭載レーザー 785nm/400mW 検出器 電子冷却CCD検出器
・測定波長範囲 100~3450cm-1 分解 4cm-1
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