共用設備検索結果
二重収束型質量分析計 (double-focusing mass spectrometer)
- 設備ID
- NR-502
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JMS-700 Mstation
- 仕様・特徴
- ・電子イオン化（EI） ・化学イオン化（CI） ・高速原子衝撃（FAB） ・磁場/電場二重収束
LC/TOFMS飛行時間型質量分析計 (liquid chromaography TOF MS)
- 設備ID
- NR-503
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JMS-T100LC AccuTOF
- 仕様・特徴
- ・エレクトロスプレーイオン化（ESI） ・飛行時間型
LC/TOFMS高分解能飛行時間型質量分析装置 (liquid chromaography TOF MS (DART/ESI/CSI/APCI))
- 設備ID
- NR-504
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- AccuTOF LC-plus 4G, DART/ESI/CSI/APCI
- 仕様・特徴
- ・エレクトロスプレーイオン化（ESI） ・大気圧イオン化（APCI) ・コールドスプレーイオン化（CSI） ・DART（Direct Analysis in real time) ・飛行時間型
マトリックス支援レーザーイオン化飛行時間型質量分析計 (Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight Mass Spectrometer)
- 設備ID
- NR-505
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- autoflexⅡ
- 仕様・特徴
- ・マトリックス支援レーザー脱離イオン化（MALDI） ・飛行時間型
微小デバイス特性評価装置 (Electron Beam Absorbed Current (EBAC) Characterization System nanoEBAC )
- 設備ID
- NR-601
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- NE4000
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 500 V ～ 30 kV
・分解能: 15nm（加速電圧2kV、WD_15mm）
・プローブユニット：4
・付属：半導体デバイス・アナライザ（B1500A）
分光感度・内部量子効率測定装置 (Solar Simulator)
- 設備ID
- NR-602
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 分光計器 (BUNKOUKEIKI)
- 型番
- CEP-2000RP
- 仕様・特徴
- ・波長範囲；300～1200nm
・単色照射面積：10×10mm
熱/電気物性評価装置 (Physical Property Measurement System (PPMS))
- 設備ID
- NR-603
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- カンタムデザイン (Quantum Design)
- 型番
- PPMS EverCoolⅡ
- 仕様・特徴
- ・熱特性：比熱測定（熱容量）、熱輸送測定（熱伝導率、ゼーベック係数、メリット係数（ZT））
・電気特性：電気輸送特性、直流抵抗
・温度：2K-400K
・高真空オプション：<10-5Torr
示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 (TG-DSC)
- 設備ID
- NR-701
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech)
- 型番
- DSC 7000X/STA 7200
- 仕様・特徴
- [DSC7000X]
・測定方式： 熱流束型
・温度範囲： -150℃～725℃
・DSC測定範囲： ±100mW
・DSC感度： 0.1μW（200℃等温保持条件時）
[STA7200]
・天秤方式： デジタル水平作動型
・温度範囲： 室温～1100℃
・TG範囲： ±400mg(感度0.1μg)
・DTA範囲： ±1000μV(感度0.03μV)
分光エリプソメーター (Spectroscopic Ellipsometer)
- 設備ID
- NR-702
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 堀場ージョバンイボン (HORIBA JOBIN YVON)
- 型番
- UVISEL ER AGMS-NSD
- 仕様・特徴
- ・波長範囲: 0.6 eV 〜 6.0 eV（206 nm 〜2066 nm ）
・スポット径: 約 5 mm * 2 mm
微細形状測定装置 (Microfigure Measurering Instrument)
- 設備ID
- NR-703
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 小坂製作所 (Kosaka)
- 型番
- ET200
- 仕様・特徴
- ・再現性 0.3nm以内
・分解能 Z：0.1nm X：0.1μm