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LC/TOFMS飛行時間型質量分析計 (liquid chromaography TOF MS)

設備ID
NR-503
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
LC/TOFMS飛行時間型質量分析計
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JMS-T100LC AccuTOF
仕様・特徴
・エレクトロスプレーイオン化(ESI)
・飛行時間型

LC/TOFMS高分解能飛行時間型質量分析装置 (liquid chromaography TOF MS (DART/ESI/CSI/APCI))

設備ID
NR-504
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
LC/TOFMS高分解能飛行時間型質量分析装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
AccuTOF LC-plus 4G, DART/ESI/CSI/APCI
仕様・特徴
・エレクトロスプレーイオン化(ESI)
・大気圧イオン化(APCI)
・コールドスプレーイオン化(CSI)
・DART(Direct Analysis in real time)
・飛行時間型

マトリックス支援レーザーイオン化飛行時間型質量分析計 (Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight Mass Spectrometer)

設備ID
NR-505
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
マトリックス支援レーザーイオン化飛行時間型質量分析計
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
autoflexⅡ
仕様・特徴
・マトリックス支援レーザー脱離イオン化(MALDI)
・飛行時間型

微小デバイス特性評価装置 (Electron Beam Absorbed Current (EBAC) Characterization System nanoEBAC )

設備ID
NR-601
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
微小デバイス特性評価装置
メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
NE4000
仕様・特徴
・加速電圧: 500 V ~ 30 kV
・分解能: 15nm(加速電圧2kV、WD_15mm)
・プローブユニット:4
・付属:半導体デバイス・アナライザ(B1500A)

分光感度・内部量子効率測定装置 (Solar Simulator)

設備ID
NR-602
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
分光感度・内部量子効率測定装置
メーカー名
分光計器 (BUNKOUKEIKI)
型番
CEP-2000RP
仕様・特徴
・波長範囲;300~1200nm
・単色照射面積:10×10mm

示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 (TG-DSC)

設備ID
NR-701
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置
メーカー名
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech)
型番
DSC 7000X/STA 7200
仕様・特徴
[DSC7000X]
・測定方式: 熱流束型
・温度範囲: -150℃~725℃
・DSC測定範囲: ±100mW
・DSC感度: 0.1μW(200℃等温保持条件時)
[STA7200]
・天秤方式: デジタル水平作動型
・温度範囲: 室温~1100℃
・TG範囲: ±400mg(感度0.1μg)
・DTA範囲: ±1000μV(感度0.03μV)

分光エリプソメーター (Spectroscopic Ellipsometer)

設備ID
NR-702
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
分光エリプソメーター
メーカー名
堀場ージョバンイボン (HORIBA JOBIN YVON)
型番
UVISEL ER AGMS-NSD
仕様・特徴
・波長範囲: 0.6 eV 〜 6.0 eV(206 nm 〜2066 nm )
・スポット径: 約 5 mm * 2 mm

微細形状測定装置 (Microfigure Measurering Instrument)

設備ID
NR-703
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
微細形状測定装置
メーカー名
小坂製作所 (Kosaka)
型番
ET200
仕様・特徴
・再現性 0.3nm以内
・分解能 Z:0.1nm X:0.1μm

DART質量分析計 (Direct Analysis in Real Time Quadrupole Mass Spectrometer)

設備ID
NR-507
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
DART質量分析計
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
Q1000TD
仕様・特徴
・アンビエントイオン源DARTTM (Direct Analysis in Real Time)
・四重極型

表面ダイナミクス原子間力顕微鏡装置 (Atomic Force Microscope System for Surface Dynamics)

設備ID
NR-706
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
表面ダイナミクス原子間力顕微鏡装置
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
NanoWizard ULTRA Speed 2
仕様・特徴
・測定環境:大気中、液中
・最大撮影速度:10 frames/sec
・最大走査範囲:水平300μm×垂直300μm
・動作モード:コンタクトモード、ピークフォースタッピング(QIモード)、ACモード、フォースカーブマッピングモード
・温度制御範囲:室温~+300℃(高温加熱ステージ利用時)、-30~120℃(加熱冷却モジュール利用時)
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