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共用設備検索結果

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非接触3次元表面形状・粗さ測定機  (White-light interferometer)

メーカー名
ザイゴ (Zygo)
型番
NewView 7300
設備画像
非接触3次元表面形状・粗さ測定機
設置機関
豊田工業大学
仕様・特徴
材料は不問。サイズと重量はステージに載れば良い。
約1.5kgまでモーターステージ可動。

偏光顕微鏡(青色レーザー照射可能) (Polarizing microscope)

メーカー名
ネオアーク (Neoark Corporation)
型番
特注
設備画像
偏光顕微鏡(青色レーザー照射可能)
設置機関
豊田工業大学
仕様・特徴
(極Kerr、縦kerr効果)
対物レンズ50X
レーザー波長405nm、直線偏光、円偏光切り替え可能
磁区観察と同時にレーザー照射可能
外部磁界垂直方向で最大15kOe、面内方向で最大3kOeなど

磁気光学効果測定装置 (Magneto-optic effect measurement equipment)

メーカー名
豊田マックス ()
型番
特注
設備画像
磁気光学効果測定装置
設置機関
豊田工業大学
仕様・特徴
印加磁界 最大±2T
試料温度 室温~250度、室温~-77度
測定感度 10-3
波長範囲 260nm~800nm

絶対PL量子収率測定装置 (Absolute PL quantum yield measuring equipment)

メーカー名
浜松ホトニクス (Hamamatsu Photonics)
型番
C9920-02G
設備画像
絶対PL量子収率測定装置
設置機関
豊田工業大学
仕様・特徴
測定波長範囲 300nm~950nm
本学既存の検出器と併用して、近紫外から赤外領域(300~1800nm)の範囲に渡る蛍光計測および、300~950nmの範囲の絶対量子収率の計測が可能。

3次元光学プロファイラーシステム  (3D Optical Profilers)

メーカー名
Zygo (Zygo)
型番
Nexview
設備画像
3次元光学プロファイラーシステム
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
仕様・特徴
3次元光学プロファイラーシステム
精密温度調整機能付クリーンブース

白色干渉式非接触三次元形状測定器 (White light interference type non-contact three-dimensional shape measuring system)

メーカー名
ブルカー・エイエックスエス (Bruker)
型番
NT91001A-in motion
設備画像
白色干渉式非接触三次元形状測定器
設置機関
香川大学
仕様・特徴
in-situ駆動観察
測定方式:垂直走査型干渉方式
位相シフト干渉方式
分解能:X,Y方向:1μm
Z方向:0.1~1nm
試料ステージ:6インチ

デジタルマイクロスコープ (Digital microscope)

メーカー名
ハイロックス (Hirox)
型番
KH-7700
設備画像
デジタルマイクロスコープ
設置機関
香川大学
仕様・特徴
有効画素数 : 201万画素
最高解像度 : 3000万画素
倍率 : ~400倍
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