共用設備検索

  1. ホーム>
  2. 共用設備検索

共用設備検索結果

フリーワード検索

デジタルマイクロスコープ群 (Optical microscope)

設備ID
TT-015
設置機関
豊田工業大学
設備画像
デジタルマイクロスコープ群
メーカー名
キーエンス (Keyence)
型番
VHX-600、VH-5500など
仕様・特徴
・フリーアングル低倍観察VH-5500など
・測微機能および3次元表示機能付きデジタルマイクロスコ-プ
・材料は不問、サイズはステージに載れば利用可能

非接触3次元表面形状・粗さ測定機  (White-light interferometer)

設備ID
TT-018
設置機関
豊田工業大学
設備画像
非接触3次元表面形状・粗さ測定機
メーカー名
ザイゴ (Zygo)
型番
NewView 7300
仕様・特徴
材料は不問。サイズと重量はステージに載れば良い。
約1.5kgまでモーターステージ可動。

偏光顕微鏡(青色レーザー照射可能) (Polarizing microscope)

設備ID
TT-021
設置機関
豊田工業大学
設備画像
偏光顕微鏡(青色レーザー照射可能)
メーカー名
ネオアーク (Neoark Corporation)
型番
特注
仕様・特徴
(極Kerr、縦kerr効果)
対物レンズ50X
レーザー波長405nm、直線偏光、円偏光切り替え可能
磁区観察と同時にレーザー照射可能
外部磁界垂直方向で最大15kOe、面内方向で最大3kOeなど

磁気光学効果測定装置 (Magneto-optic effect measurement equipment)

設備ID
TT-022
設置機関
豊田工業大学
設備画像
磁気光学効果測定装置
メーカー名
豊田マックス ()
型番
特注
仕様・特徴
印加磁界 最大±2T
試料温度 室温~250度、室温~-77度
測定感度 10-3
波長範囲 260nm~800nm

絶対PL量子収率測定装置 (Absolute PL quantum yield measuring equipment)

設備ID
TT-030
設置機関
豊田工業大学
設備画像
絶対PL量子収率測定装置
メーカー名
浜松ホトニクス (Hamamatsu Photonics)
型番
C9920-02G
仕様・特徴
測定波長範囲 300nm~950nm
本学既存の検出器と併用して、近紫外から赤外領域(300~1800nm)の範囲に渡る蛍光計測および、300~950nmの範囲の絶対量子収率の計測が可能。

3次元光学プロファイラーシステム  (3D Optical Profilers)

設備ID
MS-102
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
設備画像
3次元光学プロファイラーシステム
メーカー名
Zygo (Zygo)
型番
Nexview
仕様・特徴
3次元光学プロファイラーシステム
精密温度調整機能付クリーンブース

白色干渉式非接触三次元形状測定器 (White light interference type non-contact three-dimensional shape measuring system)

設備ID
GA-007
設置機関
香川大学
設備画像
白色干渉式非接触三次元形状測定器
メーカー名
ブルカー・エイエックスエス (Bruker)
型番
NT91001A-in motion
仕様・特徴
in-situ駆動観察
測定方式:垂直走査型干渉方式
位相シフト干渉方式
分解能:X,Y方向:1μm
Z方向:0.1~1nm
試料ステージ:6インチ

レーザー式非接触三次元形状測定器 (Laser non-contact three-dimensional shape measuring system)

設備ID
GA-008
設置機関
香川大学
設備画像
レーザー式非接触三次元形状測定器
メーカー名
三鷹光器 (Mitaka Kohki)
型番
NH-3N
仕様・特徴
計測方法:レーザープローブ方式
計測範囲:150mm×150mm×10mm(X、Y、Z)
測定分解能:0.1×0.1×0.01μm

デジタルマイクロスコープ (Digital microscope)

設備ID
GA-009
設置機関
香川大学
設備画像
デジタルマイクロスコープ
メーカー名
ハイロックス (Hirox)
型番
KH-7700
仕様・特徴
有効画素数 : 201万画素
最高解像度 : 3000万画素
倍率 : ~400倍
スマートフォン用ページで見る