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共用設備検索結果
"光学顕微鏡"で検索した結果 49件
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- 設備ID
KT-524 |
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)キーエンス (KEYENCE CORPORATION)
- 型番
- VHX1000
- 仕様・特徴
- 汎用的なデジタルマイクロスコープ
・倍率：x100～x1,000
- 設備ID
KT-525 |
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)キーエンス (KEYENCE CORPORATION)
- 型番
- VHX7000
- 仕様・特徴
- 高解像度デジタルマイクロスコープ
・倍率：x500～x5,000
・高解像度HRレンズ、4K CMOS
- 設備ID
CT-007 |
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- LEXT OLS4000
- 仕様・特徴
- ・レーザ波長: 405 nm 半導体レーザ
・総合倍率: x 108~17,280
- 設備ID
CT-008 |
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- BX51
DP73
- 仕様・特徴
- 設備ID
AT-060 |
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
![短波長レーザー顕微鏡[VK-9700]](data/facility_item/AT-060.jpg)
- メーカー名
- キーエンス (KEYENCE)
- 型番
- VK-9700
- 仕様・特徴
- ・型式:VK-9700 Generation II（キーエンス社製）
・試料サイズ:100mmφ
・倍率:最大18000倍
・分解能:1 nm（Z方向、高さ）
・高さ測定範囲:7 mm
・表示分解能:0.001 μm
・幅測定表示分解能:0.001 μm
・フレームピクセル数:2048×1536
・モノクロ映像:14 bit
・カラー映像:RGB各8 bit、高さ測定用:24 bit
・光学ズーム:1x～6x
・測定レーザー:波長408 nm、最大出力0.9 mW
・受光:光電子増倍管
・観測:100 Wハロゲン光源
・撮像素子:カラーCCDイメージセンサ
- 設備ID
AT-061 |
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
![短波長レーザー顕微鏡[OLS-4100]](data/facility_item/AT-061.jpg)
- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- OLS-4100
- 仕様・特徴
- ・型式:OLS4100
・試料サイズ:100mmφ
・倍率:最大17280倍
・高さ測定範囲:10mm
・XYステージ:100mm×100mm（電動ステージ）
・表示分解能:0.001μm
・フレームピクセル数:4096×4096
・光学ズーム:1x～8x
・測定レーザー:波長405nm、最大出力1mW
・微分干渉ユニット:微分干渉スライダ（U-DICR）、偏光板ユニット内蔵
- 設備ID
IT-026 |
- 設置機関
- 東京工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- キーエンス (Keyence)
- 型番
- VHX-7000
- 仕様・特徴
- ハイレゾリューションヘッド : 1/1.7 型 1,222万 画素 CMOSイメージセンサ 総画素 4,168 (H) × 3,062 (V) 実効画素 4,024 (H) × 3,036 (V)
- 設備ID
IT-034 |
- 設置機関
- 東京工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- レニショー (Renishaw)
- 型番
- inVia Reflex
- 仕様・特徴
- クライオスタットのプラットフォーム温度 3.4~350 K（試料温度は3.5 Kよりも上昇）、レーザ波長 514 nm、対物レンズ 50倍、光検出器 アバランシェフォトダイオードおよび分光器、XYおよびXZの2次元発光マッピング、Hanbury-Brown Twiss計測
- 設備ID
UE-009 |
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Carl Zweiss (Carl Zweiss)
- 型番
- LSM710
- 仕様・特徴
- 励起用として405nm, 458nm, 488nm, 514nm, 561nm, 633nmのレーザーラインが使用可能。
最大10チャネルの異なる波長域の蛍光像を同時に取得可能
- 設備ID
NI-003 |
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- レーザーテック (Lasertec Corporation)
- 型番
- OPTELICS HYBRID C3
- 仕様・特徴
- 白色光源および6波長選択機能
高さ測定、線幅測定、表面粗さ測定（JI S、ISO対応）、３D表示
1μm～nmの透明膜の膜厚測定
室温～1000℃の高温加熱ステージ（真空、不活性ガス、大気中での測定）
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