共用設備検索結果
中分類から探す
インピーダンスアナライザ (Impedance Analyzer)
- 設備ID
- RO-514
- 設置機関
- 広島大学
- 設備画像
- メーカー名
- アジレント (Agilent)
- 型番
- 4294他
- 仕様・特徴
- 周波数 40Hz～110MHz 16048H
ホール効果測定装置 (Hall effect measuring device)
- 設備ID
- RO-515
- 設置機関
- 広島大学
- 設備画像
- メーカー名
- ACCENT (ACCENT)
- 型番
- HL5500PC
- 仕様・特徴
- 試料の抵抗値、キャリア濃度及び移動度を測定可
ウェハプローバ (Wafer prober)
- 設備ID
- GA-011
- 設置機関
- 香川大学
- 設備画像
- メーカー名
- ｶｰﾙ･ｽﾞｰｽ (SUSS MicroTec)
- 型番
- PM5
- 仕様・特徴
- 対応基板サイズ：直径1インチ～150mm
X・Y移動範囲（粗動）：最大150mm×150mm
X・Y移動範囲（微動）：10mm×10mm
Θ調整範囲：360°
高さ調整範囲：10mm
顕微鏡X・Y移動範囲：50mm×50mm
室温プローバー [HMP-400] (Room Temp. Prober [HMP-400])
- 設備ID
- NM-657
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![室温プローバー [HMP-400]](data/facility_item/1687417316_11.jpg)
- メーカー名
- ハイソル株式会社 (HiSOL, Inc.)
- 型番
- HMP-400
- 仕様・特徴
- ・サンプルサイズ：最大4 inch Φ
・マニピュレーター：4本
・半導体パラメータアナライザ：IV 4系統, CV 1系統
・試料台加熱機能
低温プローバー [GRAIL-408-32-B] (Low Temp. Prober [GRAIL-408-32-B])
- 設備ID
- NM-658
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![低温プローバー [GRAIL-408-32-B]](data/facility_item/1687417357_11.jpg)
- メーカー名
- ナガセテクノエンジニアリング株式会社 (Nagase Techno-Engineering Co., Ltd.)
- 型番
- GRAIL-408-32-B
- 仕様・特徴
- ・温度範囲：8～300 K
・サンプルサイズ：最大4 inch Φ
・マニピュレーター：4本
・半導体パラメータアナライザ：4系統
・高速パルスI-V測定
物理特性測定装置 (Physical Property Measurement System: PPMS)
- 設備ID
- OS-128
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本カンタム・デザイン株式会社 (Quantum Design Japan, Inc.)
- 型番
- DynaCool-9
- 仕様・特徴
- 【用途】
低温・高磁場での材料物性測定
【仕様】
温度制御
温度範囲1.85K～400K
温度安定度±0.02％(T>20K)、 ±0.1％(T≦20K)
温度可変速度 0.01K/分～12K/分
冷却速度 40分：300K→1.9K
磁場制御
超電導マグネット ±９T
磁場均一度 ±0.01％ 1cm×3cm
磁場分解能 0.16 Oe
【測定オプション】
直流抵抗、電気輸送特性（ETO）、Van der Pauw-ホール輸送特性、試料回転機構、多機能プローブ
・精度の高い測定と測定時間の短縮（従来機より高度な温度制御システム、高真空システムが搭載、CAN（Controller Area Network）使用）
・ユーザーの要望に応えられるカスタマイズ性（多機能プローブにより 光学・マイクロ波等を用いた測定や、試料に追加の電極を必要とする測定が可能。