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共焦点ラマン顕微鏡 (Confocal Raman microscopy)

メーカー名
WITec (WITec)
型番
alpha300R
設備画像
共焦点ラマン顕微鏡
設置機関
東京工業大学
仕様・特徴
532 nm レーザー、グレーティング 600 g/mmおよび1800 g/mm(ブレーズ波長 500 nm)、空間分解能 350 nm(XY方向)および900 nm(Z方向)、対物レンズ 10倍・20倍・50倍・100倍、XYZ自動ステージによるラインスキャン・2次元マッピング・3次元マッピング

顕微レーザーラマン分光計 (Raman spectrometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO Corporation)
型番
NRS-3100
設備画像
顕微レーザーラマン分光計
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
空間分解能:1μm。 532nmレーザと785nmレーザ

X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JPS-9200
設備画像
X線光電子分光装置
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
標準X線源(Al-Mgツインターゲット)
最大負荷 Mg 500W, Al 600W、単色化X線源
Ag3d5/2光電子スペクトル、モノクロAlKα線で励起(600 W換算)

電子線元素状態分析装置 (Electron Probe Micro Analyzer)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JXA-8530F
設備画像
電子線元素状態分析装置
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
最高加速電圧: 200kV, 倍率: ×50-1,500,000
格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm

高速応答FT-IR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy)

メーカー名
Thermo Scientific (Thermo Scientific)
型番
Nicolet 6700
設備画像
高速応答FT-IR
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
1. 測定範囲: 7,800~350cm-1
最高分解能: 0.09cm-1
S/N比: 50,000:1以上

2. 高速スキャン回数: 95スペクトル/1秒

円二色性分計 (Circular dichroism meter)

メーカー名
日本分光 (JASCO Corporation)
型番
J-720W
設備画像
円二色性分計
設置機関
電気通信大学
仕様・特徴
各種溶液(光路長1mmと10mmのセル),固体物質の場合はペレット状に加圧整形しても測定可能
MCD(磁気円二色性)測定用の永久磁石を付属
ペルチェ冷却式温度制御装置を設置可能

走査型オージェ電子分光顕微鏡 (SAM)

メーカー名
アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
型番
SAM670Xi
設備画像
走査型オージェ電子分光顕微鏡
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
元素分析:原子番号3以上
最大加速電圧:25kV
走査電子ビーム径:15nm以下(加速電圧20kV、電流1nA)
エネルギー分析:0-3200 eV
超高真空

X線光電子分光装置 (XPS)

メーカー名
島津クレートス (Shimadzu/Kratos)
型番
AXIS- ULTRA DLD
設備画像
X線光電子分光装置
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
測定可能元素 Li~U
X線源 Mg/Al 特性X線、AlKαモノクロメータX線
紫外光源:He放電管
最小プローブ 40μmφ
分析深さ 数nm
最大試料サイズ 100mm(X)×25mm(Y)×10mm(Z)
イメージング 空間分解能 3μm以下 元素像および化学状態像
深さ分析可能 エッチングイオン銃使用
傾斜分析可能 0~90°・紫外光分光分析(UPS)可能

大気中光電子分光装置 (PYS)

メーカー名
理研計器 (RIKEN KEIKI)
型番
AC-2
設備画像
大気中光電子分光装置
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
大気中試料のイオン化エネルギー測定可能
検知範囲:3.4-6.2eV

正・逆光電子分光装置 (PYS+IPES)

メーカー名
テックサイエンス (TECH SCIENCE)
型番
PYS-200+IPES
設備画像
正・逆光電子分光装置
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
PYS-200
測定エネルギー:4-9 eV
分解能:20 meV
測定領域:2 mmφ

IPES
測定エネルギー:5-50 eV
分解能:0.3 eV
測定領域:1 mmφ
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