共用設備検索結果
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共焦点ラマン顕微鏡 (Confocal Raman microscopy)
- メーカー名
- WITec (WITec)
- 型番
- alpha300R
- 設備画像

- 設置機関
- 東京工業大学
- 仕様・特徴
- 532 nm レーザー、グレーティング 600 g/mmおよび1800 g/mm(ブレーズ波長 500 nm)、空間分解能 350 nm(XY方向)および900 nm(Z方向)、対物レンズ 10倍・20倍・50倍・100倍、XYZ自動ステージによるラインスキャン・2次元マッピング・3次元マッピング
顕微レーザーラマン分光計 (Raman spectrometer)
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO Corporation)
- 型番
- NRS-3100
- 設備画像

- 設置機関
- 電気通信大学
- 仕様・特徴
- 空間分解能:1μm。 532nmレーザと785nmレーザ
X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 設備画像

- 設置機関
- 電気通信大学
- 仕様・特徴
- 標準X線源(Al-Mgツインターゲット)
最大負荷 Mg 500W, Al 600W、単色化X線源
Ag3d5/2光電子スペクトル、モノクロAlKα線で励起(600 W換算)
電子線元素状態分析装置 (Electron Probe Micro Analyzer)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 設備画像

- 設置機関
- 電気通信大学
- 仕様・特徴
- 最高加速電圧: 200kV, 倍率: ×50-1,500,000
格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
高速応答FT-IR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy)
- メーカー名
- Thermo Scientific (Thermo Scientific)
- 型番
- Nicolet 6700
- 設備画像

- 設置機関
- 電気通信大学
- 仕様・特徴
- 1. 測定範囲: 7,800~350cm-1
最高分解能: 0.09cm-1
S/N比: 50,000:1以上
2. 高速スキャン回数: 95スペクトル/1秒
円二色性分計 (Circular dichroism meter)
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO Corporation)
- 型番
- J-720W
- 設備画像

- 設置機関
- 電気通信大学
- 仕様・特徴
- 各種溶液(光路長1mmと10mmのセル),固体物質の場合はペレット状に加圧整形しても測定可能
MCD(磁気円二色性)測定用の永久磁石を付属
ペルチェ冷却式温度制御装置を設置可能
走査型オージェ電子分光顕微鏡 (SAM)
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- SAM670Xi
- 設備画像

- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
- 仕様・特徴
- 元素分析:原子番号3以上
最大加速電圧:25kV
走査電子ビーム径:15nm以下(加速電圧20kV、電流1nA)
エネルギー分析:0-3200 eV
超高真空
X線光電子分光装置 (XPS)
- メーカー名
- 島津クレートス (Shimadzu/Kratos)
- 型番
- AXIS- ULTRA DLD
- 設備画像

- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
- 仕様・特徴
- 測定可能元素 Li~U
X線源 Mg/Al 特性X線、AlKαモノクロメータX線
紫外光源:He放電管
最小プローブ 40μmφ
分析深さ 数nm
最大試料サイズ 100mm(X)×25mm(Y)×10mm(Z)
イメージング 空間分解能 3μm以下 元素像および化学状態像
深さ分析可能 エッチングイオン銃使用
傾斜分析可能 0~90°・紫外光分光分析(UPS)可能
大気中光電子分光装置 (PYS)
- メーカー名
- 理研計器 (RIKEN KEIKI)
- 型番
- AC-2
- 設備画像

- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
- 仕様・特徴
- 大気中試料のイオン化エネルギー測定可能
検知範囲:3.4-6.2eV
正・逆光電子分光装置 (PYS+IPES)
- メーカー名
- テックサイエンス (TECH SCIENCE)
- 型番
- PYS-200+IPES
- 設備画像

- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
- 仕様・特徴
- PYS-200
測定エネルギー:4-9 eV
分解能:20 meV
測定領域:2 mmφ
IPES
測定エネルギー:5-50 eV
分解能:0.3 eV
測定領域:1 mmφ