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紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR Spectrometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
V-670DS
設備画像
紫外可視近赤外分光光度計
設置機関
公立千歳科学技術大学
仕様・特徴
・測定範囲: 190~3,200 nm

フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)/赤外顕微鏡 (Fourier transform infrared spectrometer (FTIR)/Micro FTIR spectrometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
FT/IR-6600IRT-5200
設備画像
フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)/赤外顕微鏡
設置機関
公立千歳科学技術大学
仕様・特徴
FT/IR-6600, IRT-5200
・測定範囲: 7,800~350 cm-1
IRT-5200
・分解能:2 cm-1

ラマンイメージング (Raman imaging microscope)

メーカー名
レニショー (Renishaw)
型番
inVia
設備画像
ラマンイメージング
設置機関
公立千歳科学技術大学
仕様・特徴
・レーザー波長:325 nm、532 nm、785 nm
・二次元・三次元マッピング機能(0.1 μm位置再現性)
・波数域:100~4,000 cm-1
・温度調節ステージ

顕微ラマン分光 (Raman microscope)

メーカー名
フォトンデザイン (PHOTON Design)
型番
RSM-310
設備画像
顕微ラマン分光
設置機関
公立千歳科学技術大学
仕様・特徴
・レーザー波長:1,064 nm
・マッピング機能あり

円二色性分散計 (CD) (Circular dichroism spectrometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
J-820
設備画像
円二色性分散計 (CD)
設置機関
公立千歳科学技術大学
仕様・特徴
・CD/蛍光同時測定
・測定波長範囲:163~1,100 nm
・CD分解能:0.0005 mdeg
・ペルチェ式恒温セルホルダ付

X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS))

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JPS-9010TR
設備画像
X線光電子分光装置
設置機関
筑波大学
仕様・特徴
Mg / Al ツインアノード X 線銃
単色化 AlKα線(Ag 3d5/2 半値幅:0.65 eV)
静電半球型分光器
試料傾斜機構(0 ~ 90°)
中和電子銃・Ar イオンエッチング銃搭載
試料加熱機構(要相談)

分光エリプソメータ (Ellipsometer)

メーカー名
堀場製作所 (Horiba)
型番
UVISEL Plus
設備画像
分光エリプソメータ
設置機関
筑波大学
仕様・特徴
PEMを利用した位相変調方式により、外光の影響を受けにくい分光エリプソメーター

測定波長:190~2100 nm(波長分解能力:2 nm)
スポットサイズ:0.05, 0.1, 1mmφ(垂直入射時)を選択

顕微ラマン (Raman)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
NRS-5100
設備画像
顕微ラマン
設置機関
筑波大学
仕様・特徴
分光器;収差補正型ツェルニターナ配置モノクロメータ
焦点距離;f=300mm
測定端数範囲;50~8000cm-1
最高分解能;1cm-2/pixel

顕微レーザーラマン分光装置(RAMAN) (Laser Raman Spectrometer(RAMAN))

メーカー名
サーモフィッシャー (Thermo Fisher Scientific)
型番
DXR-Raman Microscope
設備画像
顕微レーザーラマン分光装置(RAMAN)
設置機関
産業技術総合研究所(AIST)
仕様・特徴
・励起光:532nm(高輝度DPSS)、780nm(高輝度ダイオード)
・測定波数範囲:50-3300cm-1
・スペクトル分解能:
 フルレンジグレーティング;5 cm-1
 高分解能グレーティング;3 cm-1
・最高空間分解能:1μmφ[使用レーザーの回折限界による]
・コンフォーカルによる深さ分解能:2μm~
・XYオートステージ:(可動範囲:76mm×100mm程度、0.1μmStep)
・ X-Yと深さ方向のラマンマッピングが可能

顕微フーリエ変換赤外分光装置(FT-IR) (Fourier Transform Infrared Spectrometer (FT-IR))

メーカー名
サーモフィッシャー (Thermo Fisher Scientific)
型番
Nicolet6700(本体)、Continuμm(顕微)
設備画像
顕微フーリエ変換赤外分光装置(FT-IR)
設置機関
産業技術総合研究所(AIST)
仕様・特徴
・光源:ETC EverGlo光源(9600~20cm-1
・最高分解能:0.09cm-1
・測定波数範囲
 350-7800cm-1 (本体: 検出器DTGS使用時 )、
 600-7800cm-1(本体及び顕微:検出器MCT-A使用時)
・測定方法
 本体:透過、ATR(ダイヤモンド、Ge)
 顕微:透過、反射、オートステージによるマッピング機能
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