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近赤外蛍光分光装置群 (Fluorolog-NIR spectrofluorometer)

メーカー名
堀場JOBIN YVON (Horiba JOBIN YVON)
型番
Fluorolog-NIR NanoLOG-EXT
設備画像
近赤外蛍光分光装置群
設置機関
九州大学
仕様・特徴
【 Fluorolog-NIR】
・測定範囲:800-1600nm(300-850nmも測定可能) オプションとして温度制御付き・セル冷却装置(液体窒素により冷却)を装着可能
【NanoLOG-EXT】
・スペクトル並びに励起光―発光イメージング可能
・測定温度制御可能励起:700-1000nm,
・蛍光:1100-2000 nm

走査電子顕微鏡装置群 (Scanning electron microscope system)

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ キーエンス  (Hitachi High-Tech KEYENCE)
型番
SU9000 VE-9800
設備画像
走査電子顕微鏡装置群
設置機関
九州大学
仕様・特徴
【超高分解能走査電子顕微鏡装置:SU9000】
・SEM(空間分解能0.4nm)とSTEM(空間分解能0.34nm)の高分解能同視野観察
・30kV以下の低加速観察
・コールドFE電子銃
・EDSによる高解像度元素マッピング
・含水サンプルの凍結観察個体表面における原子の分布を高分解能マッッピング
【3次元SEM画像測定解析システムVE-9800 KEYENCE】
・加速電圧0.5-20kV
・さまざまな有機/無機/複合材料表面構造解析低加速電圧観察可能(0.5 kV)、
・非導電性試料でも非蒸着で観察可能
・測定真空度3-260MPaで最高分解能30 nm

ナノ炭素燃料電池評価装置群 (Fuel cell evaluation systems)

メーカー名
東陽テクニカマイクロトラック・ベル (TOYO MICROTRAC MRB)
型番
AutoPEM-ER02AutoPEM-ER01BELSORP-miniⅡBELSORP-maxBELCAT-B
設備画像
ナノ炭素燃料電池評価装置群
設置機関
九州大学
仕様・特徴
【自動CV型燃料電池評価システム、燃料電池評価システム】
・燃料供給装置H2ガス1000 Ncc/min ~、Air 2000 Ncc/min~)
・DC分極電圧5 V~、電流±2 A~、自動電圧スイープ6 mV~60 V/min
・測定分解能:電流~1pA,電圧~1μV
【付帯装置:高精度ホットプレス SA-501テスター産業】

【触媒活性表面測定システム:BELSORP-miniⅡ、触媒分析装置 BELCAT-B】
・定容量式窒素ガス吸着法
・ 最大3検体同時測定(1つは参照)
・(比表面積:0.01 m2/g~、細孔径分布0.7~200 nm)
・解析プログラム:吸着等温線、BET比表面積自動解析、tプロット法等
・圧力計5台、0~133kPa、±0.25%
・圧力分解能 4Pa
・流通法 (室温~1200 ℃) TCD検出器
【ガス吸着装置BELSORP-max-12-SP】
・定容量式ガス吸着法
・最大3検体同時測定
・比表面積:0.01 m2/g ~ (N2)
・細孔径分布:0.35 - 500 nm
・N2、CO2、その他の非腐食性ガス
・解析プログラム:吸着等温線、BET比表面積自動解析、tプロット法等

X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JPS-9200
設備画像
X線光電子分光装置
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30μmφ~3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い

オージェ電子分光装置 (Auger electron spectroscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JAMP-9500F
設備画像
オージェ電子分光装置
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
加速電圧:0.5~30kV、プローブ電流:10-11~2×10-7A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging

電界放出形電子プローブマイクロアナライザー (Field emission electron probe micro analyzer (FE-EPMA))

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JXA-8530F
設備画像
電界放出形電子プローブマイクロアナライザー
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
加速電圧:1~30kV
分析機能:WDS

時間分解収差補正光電子顕微鏡システム (Time-resolved photoelectron emission microscope)

メーカー名
エルミテック (Elmitec)
型番
AC-PEEMIII
設備画像
時間分解収差補正光電子顕微鏡システム
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
空間分解能:4nm以下
時間分解能:10fs以下
LEEM機能

X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectrometer)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JPS-9200
設備画像
X線光電子分光装置
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:3μmφ~3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm

大気中紫外光電子分光装置 (Photoemission Yield Spectroscopy in Air)

メーカー名
理研計器 (Riken Keiki)
型番
AC-3
設備画像
大気中紫外光電子分光装置
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
測定エネルギー:4.0eV-7.0eV

顕微紫外可視近赤外分光装置 (UV/Vis/NIR Microscopic Spectrophotometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
MSV-5200
設備画像
顕微紫外可視近赤外分光装置
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
反射、透過測定
光電子増倍管、冷却型PbS光導電素子
測定波長域:200nm-2700nm
カセグレン対物32倍
自動XYZステージ
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